[发明专利]块状产品孔内环宽度检测装置及其检测方法在审
申请号: | 202211684230.5 | 申请日: | 2022-12-27 |
公开(公告)号: | CN116067256A | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 许惠明;肖荣鑫 | 申请(专利权)人: | 昂拓科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/06 |
代理公司: | 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297 | 代理人: | 顾祥安 |
地址: | 215123 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 块状 产品 内环 宽度 检测 装置 及其 方法 | ||
1.块状产品孔内环宽度检测装置,包括底座,其特征在于:所述底座上设置有产品定位托架,所述底座上还设置有位于所述产品定位托架一侧的检测机构,所述检测机构包括安装座,所述安装座上设置检测仪表,所述检测仪表的测杆沿竖向延伸且其下方设置有朝向所述产品定位托架的检测块,所述安装座上还可移动地设置有驱动杆,所述驱动杆移动过程中可驱动所述检测块在设定的第一高度和第二高度之间升降,所述第二高度低于所述第一高度,且在第二高度时,所述驱动杆与检测块分离。
2.根据权利要求1所述块状产品孔内环宽度检测装置,其特征在于:所述产品定位托架包括支撑块,所述支撑块的第一侧面处设置有凸台、第一支柱及第二支柱,所述凸台的顶面设置有与所述检测块在竖直方向上位置正对的悬挂台,所述悬挂台的顶部低于第一高度的检测块的底部,所述悬挂台与所述凸台所在的侧面之间保持预定间隙,所述第一支柱位于所述凸台的上方且位于所述凸台的一侧,所述第二支柱位于所述凸台的下方且与所述悬挂台正对。
3.根据权利要求2所述块状产品孔内环宽度检测装置,其特征在于:所述定位托块上还设置有第三支柱,所述第三支柱与所述第一支柱对称设置在所述凸台的两侧。
4.根据权利要求2所述块状产品孔内环宽度检测装置,其特征在于:所述检测机构设置在一滑动块上,所述滑动块滑动设置在所述底座上,所述滑动块的滑动方向与所述第一侧面垂直。
5.根据权利要求2所述块状产品孔内环宽度检测装置,其特征在于:所述支撑块上设置有与所述检测块位置正对的通槽,所述检测机构与所述支撑台上的凸台位于所述支撑台的相对的两侧,所述检测块可移动至所述通槽内且使所述检测块的局部位于所述第一侧面的外侧。
6.根据权利要求1所述块状产品孔内环宽度检测装置,其特征在于:所述驱动杆的顶面设置有驱动斜面,所述检测块的底部设置有与所述驱动斜面匹配的从动斜面;
在所述驱动杆朝所述产品定位托架方向移动时,所述驱动斜面与所述从动斜面配合使所述检测块由第二高度抬升至第一高度;
在所述驱动杆向远离所述产品定位托架的方向移动时,所述检测块下降至第二高度。
7.根据权利要求1所述块状产品孔内环宽度检测装置,其特征在于:所述驱动杆上远离所述产品定位托架的一端设置有手动操作件。
8.根据权利要求1所述块状产品孔内环宽度检测装置,其特征在于:所述滑动块朝向所述产品定位托架的一端设置有磁体,所述产品定位托架的支撑块可被磁体吸附。
9.块状产品孔内环壁厚检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1,提供如权利要求1-8任一所述块状产品孔内环宽度检测装置及待测的块状产品;
S2,使所述块状产品的内环挂设在产品定位托架的悬挂台上,同时所述块状产品倾斜躺设在产品定位托架的第一支柱和第二支柱上;
S3,调整所述驱动杆使所述检测机构的检测块处于第一高度;然后,使所述检测块伸入到所述块状产品的内环与内孔的孔壁之间的间隙中且位于内环的上方;
S4,向远离所述块状产品的方向移动所述驱动杆使所述检测块下落至与所述内环的外壁接触;
S5,读取此时检测仪表的读数。
10.根据权利要求9所述块状产品孔内环壁厚检测方法,其特征在于:还包括S6将所述块状产品翻转预定角度,并使块状产品重新挂设在悬挂台上,同时所述块状产品倾斜躺设在产品定位托架的第二支柱和第三支柱上,然后重复S3-S5。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昂拓科技(苏州)有限公司,未经昂拓科技(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211684230.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。