[实用新型]一种半导体测试治具

说明书

本实用新型公开了一种半导体测试治具，涉及半导体制造技术领域，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片。本实用新型设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定。

技术领域

本实用新型涉及半导体制造技术领域，尤其涉及一种半导体测试治具。

背景技术

半导体芯片：在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作的一种工具。半导体生产过程中需要对其进行性能及功能测试，为方便测试，一般配备有对应测试芯片的冶具，冶具内有匹配芯片的凹槽，用于稳定芯片，但是测试完后，则不方便其芯片的取出。因此本实用提出了一种半导体测试治具，以解决上述背景技术中提到的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体测试治具。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体测试治具，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片，所述弹性片固定于活动座内部，所述冶具座上侧设置有盒盖，所述盒盖后侧固定连接有转杆一，所述转杆一转动连接于冶具座后侧，所述转杆一与冶具座内部两活动座传动连接。

优选地，所述冶具座内部转动连接有左右两转杆二，转杆二两端均固定有齿轮三，活动座两侧均开设有对应齿轮三的齿槽。

优选地，所述转杆一中间周侧固定有齿轮一，齿轮一内侧设置与其啮合的齿条，齿条上下滑动于冶具座后侧。

优选地，所述齿条左右两侧均设置有与其啮合的齿轮二，两齿轮二分别与冶具座内部的两转杆二固定连接。

优选地，所述夹紧块后侧两端均设置有滑槽块，夹紧块前后滑动于两滑槽块之间，且滑槽块内部设置有对应夹紧块的弹簧一。

优选地，所述活动座内部上侧设置有贯穿滑槽块的若干滑柱，夹紧块通过两侧滑槽块和滑柱上下滑动于活动座内，且滑柱周侧套设有弹簧二。

优选地，所述夹紧块下侧固定有斜块，冶具座内部两侧前后均设置有对应斜块的斜面块。

相比现有技术，本实用新型的有益效果为：

1、本实用新型设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行；

2、本实用新型设置的活动座内部稳定结构，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，其具备一定的适用范围，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定，改变传统固定放置槽的固定方式，提高了本冶具座结构测试芯片的适用面。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体测试治具的结构示意图一；

图2为本实用新型提出的一种半导体测试治具的结构示意图二；

图3为本实用新型提出的一种半导体测试治具中冶具盒的内部结构示意图；