[实用新型]一种测试结构及测试装置

权利要求书

1.一种测试结构，其特征在于，包括：至少一组测试片组，所述测试片组包括两个测试片，每一个所述测试片包括主体部以及所述主体部设有的测试部，其中，两个所述测试片的主体部分别沿竖直方向相间隔设置，两个所述测试片的测试部分别沿水平方向并列且相互独立设置，并且两个所述测试部相背离的一侧分别凸出表面设置有限位部，两个所述限位部相配合形成限位槽，所述限位槽用于限制电子芯片管脚的位置。

2.根据权利要求1所述的一种测试结构，其特征在于，两个所述限位部相靠近一侧限位部上分别设置有第一倾斜面，所述第一倾斜面在所述电子芯片管脚插入限位槽内时起导向作用。

3.根据权利要求1或2所述的一种测试结构，其特征在于，两个所述测试片中，其中，位于上方的所述主体部所设置的所述测试部的一侧设置有第一避空位，而位于下方的所述主体部所设置的所述测试部向上延伸至所述第一避空位，使两个测试部的端面齐平。

4.根据权利要求3所述的一种测试结构，其特征在于，所述测试结构还包括测试座，所述测试片还包括安装部，所述安装部位于所述主体部远离所述测试部的一端，所述安装部设置于所述测试座上。

5.一种测试装置，其特征在于，包括：

底座，设置有第一装配槽；

第一支撑座，沿竖直方向活动设置于所述第一装配槽内用于承载电子芯片，并且所述第一支撑座与底座之间设置有第一弹性件；以及

如权利要求1至4任意一项所述的测试结构，其中，所述测试片组分别沿水平方向相对设置于所述第一装配槽的两侧，且所述测试部朝靠近所述第一装配槽的方向延伸，用于与所述电子芯片的管脚接触。

6.根据权利要求5所述的一种测试装置，其特征在于，所述第一支撑座上设置有第二装配槽，所述第二装配槽内可拆卸设置有承载座，且所述承载座的端面设置有与电子芯片结构相适应的仿形槽。

7.根据权利要求6所述的一种测试装置，其特征在于，所述第一支撑座和/或所述承载座中对应所述测试部的相对两侧分别设置有第二避空位，所述测试部延伸至所述第二避空位处，且当所述电子芯片承载在所述承载座上时，所述测试部位于所述电子芯片管脚的下方。

8.根据权利要求6所述的一种测试装置，其特征在于，所述底座上设置导向轴，所述第一支撑座通过轴套活动设置于所述导向轴上。

9.根据权利要求6至8任意一项所述的一种测试装置，其特征在于，所述第一支撑座上沿竖直方向贯穿设置有装配孔，所述装配孔内沿竖直方向活动设置有第二支撑座，并且所述第二支撑座与所述底座之间设置有第二弹性件。

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述承载座上与所述装配孔同轴设置有导向孔，所述第二支撑座通过所述导向孔向外延伸。