[实用新型]一种半导体分立器件的耐压测试装置

权利要求书

1.一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括装置本体(1)；

设置在所述装置本体(1)正面的显示屏(3)；

设置在所述装置本体(1)正面右段的操作板(2)；

设置在所述装置本体(1)正面左段的调节旋钮(4)；

以及设置在所述装置本体(1)顶部的操作组件(5)，其特征在于：所述操作组件(5)包括连接在所述装置本体(1)的盖合部(51)，所述装置本体(1)顶部连接有限位部(52)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述盖合部(51)包含铰接在所述装置本体(1)顶部右侧的第一铰接盖(511)，所述装置本体(1)顶部左侧铰接有第二铰接盖(512)，所述第二铰接盖(512)内侧一端开设的限位槽内壁固定连接有复位弹簧(513)所述复位弹簧(513)外端固定连接有连接块(514)，所述连接块(514)外端通过连接杆(515)固定连接有限位卡板(516)，所述连接块(514)顶部固定连接有推块(517)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述限位部(52)包括固定连接在所述装置本体(1)开设的限位槽内壁的连接圆柱块(521)，所述连接圆柱块(521)正面固定连接有固定板(522)，所述装置本体(1)开设的限位槽内壁固定连接有限位弹簧(523)，所述装置本体(1)内壁滑动连接有连接板(524)，所述连接板(524)通过铰链(525)铰接有测试装置连接器(526)。

4.根据权利要求2所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述第二铰接盖(512)顶部开设有限位口，所述推块(517)滑动连接于限位口内壁。

5.根据权利要求2所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述第一铰接盖(511)内侧一端开设有限位卡口，所述限位卡板(516)卡接于限位卡口内壁。

6.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述测试装置连接器(526)测试一端与连接板(524)相互重合。

7.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述装置本体(1)与测试装置连接器(526)通过电连接。

8.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述连接板(524)与装置本体(1)通过限位滑块进行连接，所述限位滑块滑动连接于装置本体(1)开设的限位滑槽内。