[实用新型]一种半导体分立器件的耐压测试装置

说明书

本实用新型涉及半导体分立器件的耐压测试装置技术领域，且公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括装置本体；通过将半导体分立器件沿着固定连接在装置本体通过连接圆柱块固定连接的固定板一侧沿边放置，固定在两侧的限位弹簧通过固定板的作用，对半导体分立器件进行相应的限位夹紧，在对半导体分立器件测试时，拿取便利；通过转动连接块，使得通过铰链的测试装置连接器沿着铰接块进行翻转，使得与连接块重合的一面翻转至正面，待检测的半导体分立器件被压紧在装置本体内部与两个铰接盖之间，通过控制操作板操控开始测试半导体分立器件的耐压性，对半导体分立器件在测试时的相对限位，便于在测试时，提高监测的准确性。

技术领域

本实用新型涉及半导体分立器件的耐压测试装置技术领域，具体为一种半导体分立器件的耐压测试装置。

背景技术

半导体产业中有两大分支：集成电路和分立器件，分立器件被广泛应用到消费电子、计算机及外设、网络通信，汽车电子、led显示屏等领域，半导体分立器件在出厂之前需要进行严格的电性能测试，这会影响半导体的使用性能。

现有中国专利网上公布了一种半导体分立器件的耐压测试装置，授权公众号为CN214473743U，与现有技术相比，本实用新型提供了一种半导体分立器件的耐压测试装置，具备以下有益效果：

本实用新型中，通过设置的第一滑块、第一滑槽、弹簧安装块、拉杆、弹簧、拉杆把手相互配合工作，使耐压测试装置主体可以通过拉动拉杆把手在耐压测试装置壳体内上下滑动，以便于待检测半导体分立器件的安装与拆卸，并且可以通过弹簧的弹力将待检测件压紧，通过设置的第二滑槽、第三滑槽、第二滑块、引脚插块拉杆、锁紧螺母、拧紧把手相互配合工作，使半导体分立器件引脚插块可以在第二滑槽内左右移动并缩紧，调节两个半导体分立器件引脚插块的间距位置可以对不同类型的半导体分立器进行检测，通过设置的防滑垫圈，使在固定半导体分立器件引脚插块的位置时更加稳定。

该半导体分立器件的耐压测试装置在实际使用时,在测试时安装半导体分立器件非常的麻烦，会浪费大量的时间在安装于拆卸上，基于此提出了一种半导体分立器件的耐压测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供了一种半导体分立器件的耐压测试装置，解决了一种半导体分立器件的耐压测试装置的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括装置本体；

设置在所述装置本体正面的显示屏；

设置在所述装置本体正面右段的操作板；

设置在所述装置本体正面左段的调节旋钮；

以及设置在所述装置本体顶部的操作组件，所述操作组件包括连接在所述装置本体的盖合部，所述装置本体顶部连接有限位部。

优选的，所述盖合部包含铰接在所述装置本体顶部右侧的第一铰接盖，所述装置本体顶部左侧铰接有第二铰接盖，所述第二铰接盖内侧一端开设的限位槽内壁固定连接有复位弹簧所述复位弹簧外端固定连接有连接块，所述连接块外端通过连接杆固定连接有限位卡板，所述连接块顶部固定连接有推块。

优选的，所述限位部包括固定连接在所述装置本体开设的限位槽内壁的连接圆柱块，所述连接圆柱块正面固定连接有固定板，所述装置本体开设的限位槽内壁固定连接有限位弹簧，所述装置本体内壁滑动连接有连接板，所述连接板通过铰链铰接有测试装置连接器。

优选的，所述第二铰接盖顶部开设有限位口，所述推块滑动连接于限位口内壁。

优选的，所述第一铰接盖内侧一端开设有限位卡口，所述限位卡板卡接于限位卡口内壁。

优选的，所述测试装置连接器测试一端与连接板相互重合。

优选的，所述装置本体与测试装置连接器通过电连接。