[发明专利]一种固态硬盘用高精密封装测试装置

说明书

本发明公开了一种固态硬盘用高精密封装测试装置，具体涉及固态硬盘测试装置技术领域，包括测试底座；硬盘放置槽；支架；气缸；顶针安装座；PIN顶针；移动座；擦拭块；平移部件，用于驱动所述移动座水平移动，进而使得所述擦拭块移动过程中能够对固态硬盘上的触点表面进行擦拭。由平移部件驱动移动座水平移动，使得擦拭块水平移动并对固态硬盘上的触点表面进行擦拭处理，另外擦拭块移动到位后，顶针安装座将由避空槽穿出，进而使PIN顶针抵触固态硬盘的触点，由于PIN顶针接触到固态硬盘触点前，擦拭块能够对固态硬盘触点进行擦拭，因此能够避免固态硬盘触点表面附着异物，进而导致PIN顶针与固态硬盘触点产生接触不良的现象。

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试装置技术领域，更具体地说，本发明涉及一种固态硬盘用高精密封装测试装置。

背景技术

固态硬盘作为一种新型的存储产品，其相较于传统机械硬盘，具有速度快，寿命长，功耗低等一系列优点，固态硬盘是将大容量FlashIC通过SM制程技术装在线路板上，因为其体积小，方便电脑组装；而PCIE固态硬盘产品在测试时，需要连接四根数据线，以及5V电源线和接地线。

经检索，中国专利号CN204649776U中公开了一种PCIE固态硬盘的顶针测试治具，包括支架和测试板，支架固定在测试板上，支架上设有固定架，固定架上设有固定圈，固定圈内插入手压柄，手压柄上连接提手柄，手压柄的底端固定连接在支撑架上，支撑架包括上下两块亚克力板，测试板上设有集成电路板的固定框，固定框内设有多个固定槽，固定框边沿设有多个限位块；上述技术方案，通过把四根数据线及电源线和接地线一起整合到治具中，通过数据线的信号连接PIN顶针，由PIN顶针连接到产品进行导通。

上述现有技术中的测试装置在对固态硬盘进行测试时，需要将PIN顶针与固态硬盘上的触点接触，由于触点表面可能附着异物，这样就导致PIN顶针接触到触点后，两者接触不良，进而导致PIN顶针与固态硬盘触点无法顺畅导通，从而会影响对固态硬盘的测试精度、测试效率。

发明内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本发明的实施例提供一种固态硬盘用高精密封装测试装置，本发明所要解决的技术问题是：现有技术中的固态硬盘测试设备无法对固态硬盘上的触点进行擦拭处理，进而导致PIN顶针与固态硬盘接触不良。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种固态硬盘用高精密封装测试装置，包括测试底座，所述测试底座顶面设有凹陷的硬盘放置槽，还包括：

支架，设于所述测试底座，且其上竖直安装有气缸；

顶针安装座，连接于所述气缸的气缸杆上，且位于所述硬盘放置槽的正上方，所述顶针安装座底部设有多个PIN顶针；

移动座，滑动连接于所述支架且其上设有通孔形式的避空槽，所述避空槽能够供顶针安装座自由通过，所述移动座底部的一端设有擦拭块；

平移部件，用于驱动所述移动座水平移动，进而使得所述擦拭块移动过程中能够对固态硬盘上的触点表面进行擦拭。

如图1-9所示，实施方式具体为：将固态硬盘放置于硬盘放置槽内，再通过气缸的气缸杆伸长，并驱动顶针安装座朝下移动，直至PIN顶针分别接触固态硬盘的触点，进而可以对固态硬盘进行测试，另外顶针安装座朝下移动时，将由平移部件驱动移动座水平移动，使得擦拭块水平移动并对固态硬盘上的触点表面进行擦拭处理，另外擦拭块移动到位后，顶针安装座将由避空槽穿出，进而使PIN顶针抵触固态硬盘的触点，由于PIN顶针接触到固态硬盘触点前，擦拭块能够对固态硬盘触点进行擦拭，因此能够避免固态硬盘触点表面附着异物，进而导致PIN顶针与固态硬盘触点产生接触不良的现象。

在另一个优选的实施方式中，所述平移部件包括：

第一齿条，水平固接于所述移动座远离擦拭块一端，且所述支架上设有供第一齿条移动能自由通过的第一通槽；

支臂，水平固接于所述支架上；