[发明专利]一种基于相位相关计算的异源图像配准方法及装置在审
申请号: | 202310061058.6 | 申请日: | 2023-01-17 |
公开(公告)号: | CN116188547A | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 李波;章飞宇;王帅;王绍谦;戴玉超 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G06T7/33 | 分类号: | G06T7/33;G06N3/0464;G06N3/09 |
代理公司: | 西安维赛恩专利代理事务所(普通合伙) 61257 | 代理人: | 李明全 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 相位 相关 计算 图像 方法 装置 | ||
1.一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,包括以下步骤:
分别提取模板图像的第一特征图S1和参考图像的第二特征图S2;
根据所述S1确定通道信息KP1;根据所述S2确定通道信息KP2;
根据所述KP1和KP2生成相位相关图RS;
根据所述RS确定所述模板图像和参考图像之间的旋转参数r和尺度参数s;
基于r、s、所述S1的剩余通道信息L1和S2的剩余通道信息L2计算所述模板图像和参考图像之间的平移参数(x,y)。
2.如权利要求1所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,根据所述S1确定通道信息KP1包括:
提取所述S1的一个通道信息K1;
对所述K1进行傅里叶变换并归一化,得到变换后的通道信息KF1;
对所述KF1进行对数极坐标变换,得到通道信息KP1。
3.如权利要求2所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,所述KP2的确定方法与所述KP1的确定方法相同,且所述KP1和KP2对应的通道序数相同。
4.如权利要求2或3所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,根据所述KP1和KP2生成相位相关图RS包括:
以所述KP1为二维卷积核、KP2为二维输入信号依次进行傅里叶卷积和相关性计算,得到相位相关图RS。
5.如权利要求4所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,根据所述RS确定所述模板图像和参考图像之间的旋转参数r和尺度参数s包括:
计算所述RS中的响应值最高点,得到坐标值(r,loga s);
基于所述(r,loga s)确定所述模板图像和参考图像之间的旋转参数r和尺度参数s;其中,a为对数极坐标变换中的底数。
6.如权利要求5所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,基于所述(r,loga s)确定所述模板图像和参考图像之间的尺度参数s包括:
根据(r,loga s)和所述对数极坐标变换中的底数a确定所述s。
7.如权利要求6所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,基于r、s、所述S1的剩余通道信息L1和S2的剩余通道信息L2计算所述模板图像和参考图像之间的平移参数(x,y)包括:
基于所述r、s、所述S1的剩余通道信息L1和S2的剩余通道信息L2生成相位相关图XY;
计算所述XY中的响应值最高点,得到坐标值(x0,y0);
根据所述(x0,y0)和s确定平移参数(x,y)。
8.如权利要求7所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,基于所述r、s、所述S1的剩余通道信息L1和S2的剩余通道信息L2生成相位相关图XY包括:
基于所述r和s对所述L1进行变换,得到变换后的剩余通道信息L1;
对所述L1进行上采样,得到采样信息L1;
对所述L2进行上采样,得到采样信息L2;
以所述L1为二维卷积核、L2为二维输入信号依次进行傅里叶卷积和相关性计算,得到相位相关图XY。
9.如权利要求7或8所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法,其特征在于,根据所述(x0,y0)和s确定平移参数(x,y)包括:
10.一种基于相位相关计算的异源图像配准装置,包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,处理器执行计算机程序时实现权利要求1-9任一所述的一种基于相位相关计算的异源图像配准方法。
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