[发明专利]金纳米阵列多光谱偏振参数成像装置及方法在审

专利信息
申请号: 202310171303.9 申请日: 2023-02-28
公开(公告)号: CN116067894A 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 薛璐;熊吉川;刘学峰;倪斌;徐彬 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21;G06T7/00;G01N21/01
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 岑丹
地址: 214409 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 纳米 阵列 光谱 偏振 参数 成像 装置 方法
【说明书】:

发明提出了一种金纳米阵列多光谱偏振参数成像装置及方法。所述方法为:光源通过滤波器以及起偏器变为单色线偏振光,再经过分束镜与物镜对待检测样品进行照明,样品反射的光经物镜、分束器、波片、检偏器后进入相机,在此过程中计算机驱动电机驱动器控制微型电机转动、选择滤波器的透过波长以及控制相机采集图像。微型电机控制起偏器进行周期性转动,每转动固定角度相机进行一次采图,将带有不同偏振信息的图输入计算机进行处理,获得单波长偏振参数图像,再通过调节滤波器来改变入射光波长,进而得到金纳米阵列的多光谱偏振参数图像。本发明具有效率高、成本低、分辨率高、能实现多维表征等优点。

技术领域

本发明属于纳米结构光学成像领域,具体为一种金纳米阵列多光谱偏振参数成像装置及方法。

背景技术

金纳米阵列结构具有独特的局域表面等离子共振效应,被广泛应用于生物医学领域,由于尺寸较小,其形貌通常采用扫描电子显微镜或近场扫描显微镜等来表征,然而这些方法在设备成本、操作难度和成像速度上仍存在缺陷。此外,金纳米阵列的散射光场具有偏振以及光谱依赖性,在成像中充分利用这些特性能够实现金纳米阵列的多维表征。

发明内容

本发明的目的在于提出一种金纳米阵列多光谱偏振参数成像装置,以实现对金纳米阵列多维、高分辨率、低成本、快速的表征。

实现本发明目的的技术方案为:一种金纳米阵列多光谱偏振参数成像装置,包括光源、滤波器、起偏器、微型电机、电机驱动器、分束镜、物镜、波片、检偏器、相机以及计算机,所述起偏器在微型电机控制下旋转,电机驱动器、滤波器以及相机均与计算机连接,在计算机控制下工作;光源通过滤波器滤波以及起偏器调节偏振态后,经过分束镜与物镜对待检测样品进行照明,样品反射的光依次经过物镜、分束镜、波片以及检偏器后在相机上成像,通过旋转起偏器,获得像面各点在不同偏振角度下的散射信息,由计算机计算得到单波长偏振参数图谱;通过控制滤波器调节透过波长,获得不同入射波长下的散射信息,进而得到多光谱偏振参数图像。

优选地,所述滤波器采用可调谐滤波器,光谱调制范围为可见光波段,波长的调节精度为1nm。

优选地,所述微型电机采用伺服电机,伺服电机控制速度在0-20°/s范围内变动,位置精度至少为0.02°。

优选地,所述起偏器与检偏器均可透过可见光波段的光。

优选地,所述波片采用1/4波片,为可见光波段的消色差波片。

优选地,所述波片的快轴方向与检偏器的线偏振方向夹角为45°。

一种金纳米阵列多光谱偏振参数成像方法,步骤如下:

步骤1、将金纳米阵列芯片作为待检测样品8;

步骤2、打开光源1对金纳米阵列芯片进行照明,利用相机11获得一幅光强图,作为原始图像输入计算机12;

步骤3、通过电机驱动器5驱动微型电机4,控制起偏器3进行周期性的转动,利用相机11采集图像,获得多幅光强图并输入计算机12;

步骤4、计算机12根据输入的光强图计算出图像中每个像素点处的相位差和方位角;

进一步地,步骤4所述相位差sinδ以及方位角φ通过Mueller矩阵推导得出,所采用的具体公式为:

其中,αi为照射到样品的入射光的偏振方向;Ii为偏振角度为αi时相机每一个像素上探测到的光强;N为旋转的偏振角度的总个数。

步骤5、利用步骤4所得相位差以及方位角的值分别形成灰度图像,所述灰度图像中每点的灰度值代表相位差或方位角的大小,对不同颜色进行赋值形成假彩色图像,调整成像的对比度获得阵列的相位差图像以及方位角图像;

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