[发明专利]一种利用RX DQS GAT识别DDR位宽的方法

权利要求书

1.一种利用RX DQS GAT识别DDR位宽的方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：

S1、初始化配置DDR接口时，DDRPHY按照16bit DQ数据位宽进行RX DQS GAT train自适应调节；

S2、PCBA的DRAM颗粒接收到DDRPHY发送的信号后，反馈电平跳变信号至DDRPHY；

S3、若DDRPHY接收并识别DRAM颗粒高8bit和低8bit电平跳变信号则DQ位宽为16bit；若DDRPHY仅接收DRAM颗粒低8bit电平跳变信号则DQ位宽为8bit；

RX DQS GAT train自适应调节的具体步骤包括：

S1-1、RX DQS GAT train：调节读方向的DQS delay；

S1-2、WL train：调节写方向的DQS delay；

S1-3、Read train：调节读方向的DQ delay；

S1-4、Write train：调节写方向的DQ delay。

2.根据权利要求1所述的一种利用RX DQS GAT识别DDR位宽的方法，其特征在于：执行RX DQS GAT train操作时，SOC芯片通过DDRPHY对DRAM颗粒发出读请求，DRAM颗粒回应DQS信号给到DDRPHY，DDRPHY根据从SOC芯片侧接收到的读信号经过delay后生成DQS_gat信号，用来打开接收开关，获取从DRAM返回输入的DQS_io信号，得到DQS_inner信号，用来采集DQ数据。

3.根据权利要求2所述的一种利用RX DQS GAT识别DDR位宽的方法，其特征在于：步骤S1-1和S1-2的操作顺序可调换。

4.根据权利要求2所述的一种利用RX DQS GAT识别DDR位宽的方法，其特征在于：DQS_gat信号需在gat沿区间从低电平跳转到高电平。