[发明专利]一种利用WL train识别DDR位宽的方法在审

专利信息
申请号: 202310472511.2 申请日: 2023-04-26
公开(公告)号: CN116340215A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 顾江波;周永波;杨阳;田飞 申请(专利权)人: 芯河半导体科技(无锡)有限公司
主分类号: G06F13/16 分类号: G06F13/16;G06F13/40
代理公司: 无锡权正知识产权代理事务所(普通合伙) 32735 代理人: 王俊峰
地址: 214135 江苏省无锡市新吴区菱*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 wl train 识别 ddr 方法
【权利要求书】:

1.一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:

S1、初始化配置DDR接口时,DDRPHY按照16bit DQ数据位宽进行WL train自适应调节;

S2、PCBA的DRAM颗粒接收到DDRPHY发送的信号后,反馈电平跳变信号至DDRPHY;

S3、若DDRPHY接收并识别DRAM颗粒高8bit和低8bit电平跳变信号则DQ数据位宽为16bit;若DDRPHY仅接收DRAM颗粒低8bit电平跳变信号则DQ数据位宽为8bit。

2.根据权利要求1所述的一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:WLtrain自适应调节的具体步骤包括:

S1-1、WL train:调节写方向的DQS delay;

S1-2、RX DQS GAT train:调节读方向的DQS delay;

S1-3、Read train:调节读方向的DQ delay;

S1-4、Write train:调节写方向的DQ delay。

3.根据权利要求2所述的一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:执行WLtrain操作时,DDRPHY会发送写方向DQS toggle到DRAM颗粒,DRAM颗粒用DQS上升沿来采样DDR时钟CLK,并将采样结果通过对应DQ信号反馈给SOC芯片,SOC芯片根据DQ采样结果来推移写方向DQS的delay,以使写方向DQS信号在DRAM侧跟CLK边沿对齐。

4.根据权利要求2所述的一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:步骤S1-1和S1-2的操作顺序可调换。

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