[发明专利]一种利用WL train识别DDR位宽的方法在审
申请号: | 202310472511.2 | 申请日: | 2023-04-26 |
公开(公告)号: | CN116340215A | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 顾江波;周永波;杨阳;田飞 | 申请(专利权)人: | 芯河半导体科技(无锡)有限公司 |
主分类号: | G06F13/16 | 分类号: | G06F13/16;G06F13/40 |
代理公司: | 无锡权正知识产权代理事务所(普通合伙) 32735 | 代理人: | 王俊峰 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新吴区菱*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 wl train 识别 ddr 方法 | ||
1.一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:
S1、初始化配置DDR接口时,DDRPHY按照16bit DQ数据位宽进行WL train自适应调节;
S2、PCBA的DRAM颗粒接收到DDRPHY发送的信号后,反馈电平跳变信号至DDRPHY;
S3、若DDRPHY接收并识别DRAM颗粒高8bit和低8bit电平跳变信号则DQ数据位宽为16bit;若DDRPHY仅接收DRAM颗粒低8bit电平跳变信号则DQ数据位宽为8bit。
2.根据权利要求1所述的一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:WLtrain自适应调节的具体步骤包括:
S1-1、WL train:调节写方向的DQS delay;
S1-2、RX DQS GAT train:调节读方向的DQS delay;
S1-3、Read train:调节读方向的DQ delay;
S1-4、Write train:调节写方向的DQ delay。
3.根据权利要求2所述的一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:执行WLtrain操作时,DDRPHY会发送写方向DQS toggle到DRAM颗粒,DRAM颗粒用DQS上升沿来采样DDR时钟CLK,并将采样结果通过对应DQ信号反馈给SOC芯片,SOC芯片根据DQ采样结果来推移写方向DQS的delay,以使写方向DQS信号在DRAM侧跟CLK边沿对齐。
4.根据权利要求2所述的一种利用WL train识别DDR位宽的方法,其特征在于:步骤S1-1和S1-2的操作顺序可调换。
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