[实用新型]工件角度和长度测量装置无效
| 申请号： | 94238601.9 | 申请日： | 1994-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN2196290Y | 公开（公告）日： | 1995-05-03 |
| 发明（设计）人： | 李润身;姜小龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海冶金研究所 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G01B11/24 |
| 代理公司： | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人： | 季良赳 |
| 地址： | 20005*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 工件 角度 长度 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1、一种以光脉冲方法测量工件角度和长度的测量装置，包括脉冲计数电路，本实用新型的特征在于有一由晶体振荡器稳频的脉冲电源激励的脉冲光源和光探测器组成的光学探头、探头位置调整机构以及使待测工件与光源作相对运动的由电机、减速器、皮带传动机构和飞轮构成的运动系统。
2、按权利要求1所述的测量装置，其特征是所说的光学探头的脉冲光源是发出平行光的激光器或用光学准直系统准直的激光器或普通光源。
3、按权利要求1或2所述的测量装置，其特征是所说的光学探头是光探测器与脉冲光源置于待测工件二边，光探测器直接接收脉冲光源发出的光的对射式结构光学探头。
4、按权利要求1或2所述的测量装置，其特征是所说的光学探头是光探测器和脉冲光源分别与一根光缆的二根光纤的端口耦合，光缆置于待测工件同一侧，光探测器接收工件表面反射光的反射式结构光学探头。
5、按权利要求3所述的测量装置，其特征是所说的对射式光学探头的光探测器前设有光阑或光探测器与光纤耦合。
6、按权利要求1所述的测量装置，其特征是还有脉冲幅度分析单元。
7、按权利要求1所述的测量装置，其特征是所说的运动系统还包括离合器。
8、按权利要求1所述的测量装置，其特征是还包括计算机及显示、打印系统。
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