[发明专利]IC测试装置无效
| 申请号： | 99104797.4 | 申请日： | 1999-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN1230691A | 公开（公告）日： | 1999-10-06 |
| 发明（设计）人： | 中村浩人;齐藤登 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | ic 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1．一种IC测试装置，把被测试IC的输入输出端子压到检测头的接触部上，来进行检测，其特征在于，在上述被测试IC的保持媒体上设置与上述被测试IC的输入输出端子相接触来对其进行定位的导向装置。
2．根据权利要求1所述的IC测试装置，其特征在于，上述保持媒体是用于把上述被测试IC从上述被测试IC的装载部向上述检测头运送的检测托架。
3．根据权利要求1所述的IC测试装置，其特征在于，上述保持媒体是用于在把上述被测试IC压到上述接触部之前对上述被测试IC施加热应力的加热板。
4．根据权利要求1所述的IC测试装置，其特征在于，上述保持媒体是在检测室内进行循环运送的IC载架，是承载被移入上述检测室内的上述被测试IC而移送到上述检测头附近的IC载架。
5．根据权利要求1至4任一项所述的IC测试装置，其特征在于，上述被测试IC的输入输出端子是球状端子。
6．根据权利要求5所述的IC测试装置，其特征在于，上述导向装置是与球状端子相嵌合的孔。
7．根据权利要求5所述的IC测试装置，其特征在于，上述导向装置是与两个球状端子之间相嵌合的突起。
8．根据权利要求5所述的IC测试装置，其特征在于，上述导向装置是与上述球状端子相接合的锥形面。
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