[发明专利]组合式零件测试装置无效
| 申请号： | 00101014.X | 申请日： | 2000-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN1304045A | 公开（公告）日： | 2001-07-18 |
| 发明（设计）人： | 杨鸿 | 申请（专利权）人： | 神达电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 王景刚 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种组合式零件测试装置,用于对电路板上的元件进行测试,其包括透明基底,其上均匀布满多个第一小洞;透明上盖,其上均匀布满多个第二小洞,其中第二小洞分别对应第一小洞,且透明上盖适于与透明基底接合;多个导电弹性垫片,适于配置于相应第二小洞中;多个导电探针,适于配置于相应第一小洞中;固定装置,适于将透明基底与透明上盖固定于电路板上。 | ||
| 搜索关键词： | 组合式 零件 测试 装置 | ||
【主权项】：
1．一种组合式零件测试装置，用于对一电路板上的元件进行测试，其特征在于，该组合式零件测试装置包括：一透明基底，该透明基底均匀布满多个第一小洞；一透明上盖，该透明上盖均匀布满多个第二小洞，其中所述各第二小洞分别对应于所述各第一小洞，且所述透明上盖适于与所述透明基底接合；多个导电弹性垫片，适于配置于相应第二小洞中；多个导电探针，适于配置于相应第一小洞中；以及一固定装置，适于将所述透明基底与透明上盖固定于所述电路板上。
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