[发明专利]用来试验组合型磁头的方法和设备无效
| 申请号： | 00101177.4 | 申请日： | 2000-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN1262505A | 公开（公告）日： | 2000-08-09 |
| 发明（设计）人： | 蜂须贺望;稻毛健治;前田寿昭 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/455 | 分类号： | G11B5/455;G11B5/33;G01R33/12 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 马浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用来试验带有一个MR元件和一个感应元件的组合型磁头的方法,包括一个电流施加步骤,把电流施加到感应元件上,而不把外部磁场施加到磁头上;和一个测量步骤,在电流施加步骤结束之后,测量MR元件的输出特性。 | ||
| 搜索关键词： | 用来 试验 组合 磁头 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用来试验带有一个磁阻效应元件和一个感应元件的组合型磁头的方法，所述方法包括：一个电流施加步骤，把电流施加到所述感应元件上，而不把外部磁场施加到所述磁头上；和一个测量步骤，在所述电流施加步骤结束之后，测量所述磁阻效应元件的输出特性。
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