[发明专利]锡-铋合金镀浴及使用该镀浴的电镀方法无效

专利信息
申请号: 00102218.0 申请日: 2000-02-11
公开(公告)号: CN1139676C 公开(公告)日: 2004-02-25
发明(设计)人: 齐藤顺一;国司多通夫;浜地幸生 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: C25D3/60 分类号: C25D3/60
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 林蕴和
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种pH约为2.0-9.0的Sn-Bi镀浴,它包含Bi3+离子;Sn2+离子;配位剂(I)和配位剂(II)。配位剂(I)可以是(a)有1-3个碳原子烷基的脂族二羧酸,(b)有1-3个碳原子烷基的脂族羟基单羧酸,(c)有1-4个碳原子烷基的脂族羟基多羧酸,(d)单糖类、通过部分氧化单糖制得的多羟基羧酸、及其环酯化合物,或(e)稠合磷酸。配位剂(II)可以是(s)乙二胺四乙酸(EDTA),(t)氨三乙酸(NTA),或(u)反式-1,2-环己二胺四乙酸(CyDTA)。
搜索关键词: 合金 使用 电镀 方法
【主权项】:
1.一种Sn-Bi合金镀浴,其pH为2.0-9.0,该镀浴包含:Bi3+离子;Sn2+离子;至少一种配位剂(I),选自(a)有1-3个碳原子烷基的脂族二羧酸,(b)有1-3个碳原子烷基的脂族羟基单羧酸,(c)有1-4个碳原子烷基的脂族羟基多羧酸,(d)单糖类、通过部分氧化单糖制得的多羟基羧酸、及其环酯化合物,或(e)稠合磷酸;至少一种配位剂(II),选自(s)乙二胺四乙酸,即EDTA,(t)氨三乙酸,即NTA,或(u)反式-1,2-环己二胺四乙酸,即CyDTA;其特征在于:所述配位剂(II)的浓度(摩尔/升)与Bi3+离子的浓度(摩尔/升)之比至少为10,配位剂(II)浓度(摩尔/升)与Sn2+离子的浓度(摩尔/升)之比至少为1,配位剂(I)浓度(摩尔/升)与Sn2+离子的浓度(摩尔/升)之比至少为0.1。
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