[发明专利]测试片支架及用于去除其上多余分析物的装置有效

专利信息
申请号: 00102865.0 申请日: 2000-03-06
公开(公告)号: CN1266187A 公开(公告)日: 2000-09-13
发明(设计)人: 仲道男;山形秀成;平山浩二 申请(专利权)人: 株式会社京都第一科学
主分类号: G01N33/52 分类号: G01N33/52
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 姜丽楼
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种测试片支架(2)包括一细长顶表面和一对位于顶表面下面的侧表面(24)。顶表面上设置有一由细长底壁(21)和一对凸脊(22)限定的测试片固定槽(20),每个凸脊从该壁(21)的各个纵向边缘隆起,形成有多个上部毛细管槽(41),该毛细管槽竖直延伸,开口于测试片固定槽(20)。该底壁(21)形成有多个毛细管孔(42),该毛细管孔与上部毛细管槽(41)相对应和相连通,向各个侧表面(24)开口。
搜索关键词: 测试 支架 用于 去除 多余 分析 装置
【主权项】:
1、一种测试片支架,其包括一个细长顶表面和一对位于该顶表面下面的侧表面(24),该顶表面上设置有一个由细长底壁(21)和一对凸脊(22)限定的测试片固定槽(20),每个凸脊从该底壁(21)的各个纵向边缘隆起,其特征在于,每个凸脊(22)形成有多个上部毛细管槽(41),该毛细管槽竖直延伸,开口于测试片固定槽(20),该底壁(21)形成有多个毛细管孔(42),该毛细管孔与上部毛细管槽(41)相对应和相连通,该毛细管孔(42)向各个侧表面(24)开口。
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