[发明专利]测试片支架及用于去除其上多余分析物的装置有效
申请号: | 00102865.0 | 申请日: | 2000-03-06 |
公开(公告)号: | CN1266187A | 公开(公告)日: | 2000-09-13 |
发明(设计)人: | 仲道男;山形秀成;平山浩二 | 申请(专利权)人: | 株式会社京都第一科学 |
主分类号: | G01N33/52 | 分类号: | G01N33/52 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 姜丽楼 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种测试片支架(2)包括一细长顶表面和一对位于顶表面下面的侧表面(24)。顶表面上设置有一由细长底壁(21)和一对凸脊(22)限定的测试片固定槽(20),每个凸脊从该壁(21)的各个纵向边缘隆起,形成有多个上部毛细管槽(41),该毛细管槽竖直延伸,开口于测试片固定槽(20)。该底壁(21)形成有多个毛细管孔(42),该毛细管孔与上部毛细管槽(41)相对应和相连通,向各个侧表面(24)开口。 | ||
搜索关键词: | 测试 支架 用于 去除 多余 分析 装置 | ||
【主权项】:
1、一种测试片支架,其包括一个细长顶表面和一对位于该顶表面下面的侧表面(24),该顶表面上设置有一个由细长底壁(21)和一对凸脊(22)限定的测试片固定槽(20),每个凸脊从该底壁(21)的各个纵向边缘隆起,其特征在于,每个凸脊(22)形成有多个上部毛细管槽(41),该毛细管槽竖直延伸,开口于测试片固定槽(20),该底壁(21)形成有多个毛细管孔(42),该毛细管孔与上部毛细管槽(41)相对应和相连通,该毛细管孔(42)向各个侧表面(24)开口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社京都第一科学,未经株式会社京都第一科学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00102865.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。