[发明专利]半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 00104064.2 申请日: 2000-03-16
公开(公告)号: CN1156008C 公开(公告)日: 2004-06-30
发明(设计)人: 拉马·迪瓦卡鲁尼;乌里克·格略宁;金炳烈;杰克·A·曼德尔曼;拉里·尼斯比特;卡尔·J·拉登斯 申请(专利权)人: 国际商业机器公司;西门子公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/82;H01L21/8242
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种包括衬底的半导体器件。至少一对深沟槽被安置在衬底中。颈圈衬在各个深沟槽的至少部分壁上。深沟槽填充物将各个深沟槽填充。掩埋条完全跨越各个深沟槽填充物和各个颈圈上的各个深沟槽延伸。隔离区被安置在各个深沟槽之间。介质区覆盖各个深沟槽中的各个掩埋条。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,它包含:衬底;衬底中的至少一对深沟槽;衬在各个深沟槽的至少部分壁上的颈圈;各个深沟槽中的深沟槽填充物;在各个深沟槽填充物和各个颈圈上完全跨越各个深沟槽延伸的掩埋条;深沟槽之间的隔离区;以及各个深沟槽中的覆盖各个掩埋条的介质区,其中成对的沟槽之间的隔离区自对准于深沟槽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司;西门子公司,未经国际商业机器公司;西门子公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00104064.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top