[发明专利]减少存储节点和晶体管之间相互影响的存储单元布局有效

专利信息
申请号: 00104364.1 申请日: 2000-03-20
公开(公告)号: CN1153294C 公开(公告)日: 2004-06-09
发明(设计)人: Y·J·帕克;C·J·拉登斯;G·昆克尔 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术北美公司;国际商业机器公司
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L21/82;H01L21/8239
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 梁永;王忠忠
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 根据本发明的存储器单元包括在衬底中形成的沟槽,以及在衬底中栅极下面形成并延伸到沟槽的有源区域。有源区域包括用于形成晶体管以访问沟槽内存储节点的扩散区域,晶体管由栅极激活。栅极定义了第一轴,其中部分有源区域由那里横向延伸,所述部分有源区域延伸到沟槽。沟槽具有最接近所述部分有源区域的侧面,沟槽的侧面相对于栅极有角度地设置,由此栅极和沟槽侧面之间的距离大于最小特征尺寸。
搜索关键词: 减少 存储 节点 晶体管 之间 相互 影响 单元 布局
【主权项】:
1.一种存储单元,包括:在衬底中形成的沟槽;在衬底中栅极下面形成并延伸到沟槽的有源区域,有源区域包括用于形成晶体管以访问沟槽内存储节点的扩散区域,晶体管由栅极激活;定义了第一轴的栅极,其中部分有源区域由那里横向延伸,所述部分有源区域延伸到沟槽;以及具有最接近所述部分有源区域的侧面的沟槽,所述沟槽的侧面相对于栅极有角度地设置,由此栅极和沟槽侧面之间的距离大于最小特征尺寸。
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