[发明专利]透光式布料偏移检测装置无效
申请号: | 00104370.6 | 申请日: | 2000-03-20 |
公开(公告)号: | CN1117895C | 公开(公告)日: | 2003-08-13 |
发明(设计)人: | 仓田博道;正冈贵义 | 申请(专利权)人: | 大和缝纫机制造株式会社 |
主分类号: | D05B1/18 | 分类号: | D05B1/18;G01N21/89 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 王宏祥 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种透光式布料偏移检测装置,其构成是,检测受光器处于作试缝动作的被缝制布料的多个点的受光量,利用来自CPU的反馈信号自动调整与受光器连接的可变电阻器的感度,以使该多个检测值中最大的检测值与布料偏移检测用基准值相一致。采用该结构,不需要手动操作所带来的麻烦的感度调整作业,从而在以透光量变化厉害的带有图案的布料为缝制对象的情况下也能可靠而正确地进行原来的布料偏移检测,防止拷边机在拷边时产生缝制不良的现象。 | ||
搜索关键词: | 透光 布料 偏移 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种透光式布料偏移检测装置,照光器配置在重合的被缝制布料的一面侧,受光器配置在被缝制布料的另一面侧,通过判定来自照光器的光由受光器受光的透光量是否超过基准值来检测有无布料偏移,其特征在于,具有随着被缝制布料的缝制动作而检测受光器处于该被缝制布料多个点的受光量、从而自动调整所述受光器的感度或/及照光器的照光量以使其多个检测值中最大的检测值与所述基准值相一致的运算装置。
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