[发明专利]反射波分析系统和反射波扫描仪无效
| 申请号： | 00105450.3 | 申请日： | 2000-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN1270371A | 公开（公告）日： | 2000-10-18 |
| 发明（设计）人： | 岛村力;小林将充;傅田敏夫 | 申请（专利权）人： | 森萨泰克诺斯株式会社 |
| 主分类号： | G06K19/073 | 分类号： | G06K19/073 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人： | 刘激扬 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种反射波分析系统和反射波扫描仪,包括LC共振附件,其在电介体膜的一面或两面,形成导电体螺旋布线图案,构成LC共振电路;反射波扫描仪,对发射电场中的LC共振附件的有无,以及LC共振附件的共振频率进行检测反射波扫描仪设置于应装设正品部件的制品内部,特定的LC共振附件设置于正品部件上,根据在上述LC共振附件中是否有固有的反射波的情况,判断装设于制品中的部件是否是正品。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 分析 系统 扫描仪 | ||
【主权项】：
1.一种反射波分析系统，其包括：LC共振附件，其在电介体膜的一面或两面，形成导电体螺旋布线图案，构成LC共振电路；反射波扫描仪，其从频率扫描发射机发射扫描电波，对通过接收机接收的波形与发射波形进行比较，根据该比较结果，对发射电场中的LC共振附件的有无，以及LC共振附件的共振频率进行检测；其特征在于反射波扫描仪设置于应装设正品部件的制品内部，特定的LC共振附件设置于正品部件中，根据在上述LC共振附件中是否有固有的反射波的情况，判断装设于制品中的部件是否是正品。
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