[发明专利]半导体发光器件及其制造方法和制造透明导体膜的方法无效
申请号: | 00106758.3 | 申请日: | 2000-04-14 |
公开(公告)号: | CN1148811C | 公开(公告)日: | 2004-05-05 |
发明(设计)人: | 中村孝夫;松原秀树 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/28 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一发光层提供在一基底上,一p-型半导体层(24)提供在发光层上。一上电极提供在p型半导体层(24)上。一上电极包括一与p型半导体层接触的Au薄膜(10a)和一形成于其上的n型透明导体层(10b)。n型透明导体膜(10b)是通过激光烧蚀来形成的。 | ||
搜索关键词: | 半导体 发光 器件 及其 制造 方法 透明 导体 | ||
【主权项】:
1.一种半导体发光器件,包括:一基底,其背面带有一n-型下电极;一发光层(4),提供在上述基底上;一p-型半导体层(24),提供在上述发光层上;和一上电极(10a,10b),提供在上述p-型半导体层上,其中,上述上电极至少具有与所述p-型半导体层(24)接触的下层(10a)和设置在所述下层(10a)上的上层(10b),且所述上层(10b)具有不超过5.7×10-5Ωcm的电阻率。
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