[发明专利]具有冗余功能的半导体存储装置无效
申请号: | 00108936.6 | 申请日: | 2000-05-22 |
公开(公告)号: | CN1155093C | 公开(公告)日: | 2004-06-23 |
发明(设计)人: | 伊藤孝 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 姜郛厚;王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种可能降低备用存储单元的不合格几率,并确实能挽救的半导体存储装置。本发明的半导体存储装置包括:正常字线1#1~1#4、备用字线2#1~2#2和位线3#1~3#4。相对正常字线间隔,要把备用字线间隔加宽。并且,正常字线和备用字线之间的间隔也加宽。因此在制造阶段由异物引起的接触不良发生的几率降低。进而,把备用存储单元的存储点6#1~6#4的大小增大到比正常存储单元的存储点4#1~4#8要大。因此,可以增大备用存储单元的电容。 | ||
搜索关键词: | 具有 冗余 功能 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
1、一种半导体存储装置,具备有:行列状配置的多个正常存储单元(4#1~4#8);与所述多个正常存储单元(4#1~4#8)的行对应设置的多条正常字线(1#1~1#4);行列状配置,用于置换所述多个正常存储单元(4#1~4#8)中不合格的正常存储单元的多个备用存储单元(6#1~6#4,9#1~9#4);与所述多个备用存储单元(6#1~6#4,9#1~9#4)的行对应设置的多条备用字线(2#1~2#2);其特征在于:所述多条备用字线(2#1~2#2)将分别配置成,使得所述多条备用字线间的最小间隔SSW加宽到比所述多条正常字线间的最小间隔NNW要宽。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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