[发明专利]能减少负荷和时间的电路块测试模型的产生方法及设备无效
| 申请号： | 00109030.5 | 申请日： | 2000-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN1276534A | 公开（公告）日： | 2000-12-13 |
| 发明（设计）人： | 大塚重和 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 穆德骏,方挺 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于产生一测试模型以对半导体器件的至少一个电路块(24—1,24—2,24—3)进行测试的方法,所述半导体器件包括与上述电路块相连的控制电路(21),上述测试模型是通过以与控制电路的特性相对应的一个数据转换库(12)作为参考来为电路块转换出一个公用测试模型(11)而得到生成的。 | ||
| 搜索关键词： | 减少 负荷 时间 电路 测试 模型 产生 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.用于产生测试模型以对半导体器件的至少一个电路块(24-1，24-2，24-3)进行测试的方法，该半导体器件含有与上述电路块相连的控制电路(21)，上述方法的特征在于包括这样的一个步骤，即，通过以与上述控制电路的特性相对应的数据转换库(12)作为参考，来为上述电路块转换出公用测试模型(11)，从而生成上述测试模型。
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