[发明专利]一种荧光标记效率检测的方法

摘要

一种对基因芯片探针标记效率的检测方法,通过检测探针的荧光信号值(F),确定含有荧光基团的单核苷酸量(s),并以此计算出该种核苷酸的总量(n),最终可获得探针DNA的量(w)。以总的探针DNA的质量(w)、或以总的探针DNA的质量(w)除以模板mRNA或DNA的质量(r)的比值e来表示荧光标记效率,可表示为w=4×324.5×n=1298×(mk+1)×s;e=(w/r)×100%=(1298×(mk+1)×s/r)×100%。本发明为指导基因芯片荧光标记方法的改进提供参考的数据,并可用作监控芯片杂交体系,以提高荧光标记的成功率。

主权项

1．一种荧光标记效率检测方法，其特征在于，通过检测探针的荧光信号值(F)，确定含有荧光基团的单核苷酸量(s)，并以此计算出该种核苷酸的总量(n)，最终可获得探针DNA的量(w)。以总的探针DNA的质量(w)、或以总的探针DNA的质量(w)除以模板mRNA或DNA的质量(r)的比值e来表示荧光标记效率，可表示为：w=4×324.5×n=1298×(mk+1)×s及通过测得F值或s值就可知荧光标记效率；e=(w/r)×100％=(1298×(mk+1)×s/r)×100％。