[发明专利]一种荧光标记效率检测的方法无效

专利信息
申请号: 00114999.7 申请日: 2000-03-20
公开(公告)号: CN1314587A 公开(公告)日: 2001-09-26
发明(设计)人: 毛裕民;谢毅;李瑶 申请(专利权)人: 上海博道基因开发有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200092 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种对基因芯片探针标记效率的检测方法,通过检测探针的荧光信号值(F),确定含有荧光基团的单核苷酸量(s),并以此计算出该种核苷酸的总量(n),最终可获得探针DNA的量(w)。以总的探针DNA的质量(w)、或以总的探针DNA的质量(w)除以模板mRNA或DNA的质量(r)的比值e来表示荧光标记效率,可表示为w=4×324.5×n=1298×(mk+1)×s;e=(w/r)×100%=(1298×(mk+1)×s/r)×100%。本发明为指导基因芯片荧光标记方法的改进提供参考的数据,并可用作监控芯片杂交体系,以提高荧光标记的成功率。
搜索关键词: 一种 荧光 标记 效率 检测 方法
【主权项】:
1.一种荧光标记效率检测方法,其特征在于,通过检测探针的荧光信号值(F),确定含有荧光基团的单核苷酸量(s),并以此计算出该种核苷酸的总量(n),最终可获得探针DNA的量(w)。以总的探针DNA的质量(w)、或以总的探针DNA的质量(w)除以模板mRNA或DNA的质量(r)的比值e来表示荧光标记效率,可表示为:w=4×324.5×n=1298×(mk+1)×s及通过测得F值或s值就可知荧光标记效率;e=(w/r)×100%=(1298×(mk+1)×s/r)×100%。
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