[发明专利]铸造合金晶体取向测定仪以及测定方法无效
申请号: | 00116093.1 | 申请日: | 2000-10-23 |
公开(公告)号: | CN1160547C | 公开(公告)日: | 2004-08-04 |
发明(设计)人: | 任遥遥;彭志方;赵端娜 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 43007*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明包括有投影球、极点标定器、指数尺和平行线量角器四个部件,投影球上设有半圆环测角尺和圆环测角尺,极点标定器开有极点中孔、边孔、缺口,指数尺上有表示圆心角的平行线和各角度余弦值的曲线。通过测出与枝晶有关的夹角,作出有关各平面在投影球面上的迹线,再作出相应的投影点,根据与枝晶方向有关的晶面的极点至待测磨面极点之间的圆心角确定待测指数。它具有结构简单、体积小、操作简便、测定结果可靠等优点。 | ||
搜索关键词: | 铸造 合金 晶体 取向 测定 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种铸造合金晶体取向测定仪,适合于根据铸造类的立方晶系合金试样磨面上的枝晶截面排列方向测定晶体取向,其特征在于:它由投影球[1]、极点标定器[16]、指数尺[30]和平行线量角器[32]四个部件所组成,所述投影球[1]由北半球壳[3]和南半球壳[4]组成,两个半球壳内表面中心各设有一个钩子[14],分别钩住同一根弹性元件[13]的一端;两个半球壳相接的断面[11]和[12]呈凹凸相反的圆环台阶状;在两个半球壳外表面边缘相对的位置上,分别通过转轴[2]和[11]连接半圆环测角尺[6]和[7]的两端,其转轴的轴心分别与两个半球壳的外表面边缘的直径线重合;两个半圆环测角尺内表面的半径,分别等于投影球面半径和一个半圆环测角尺的外表面半径,其内表面各刻有一根可延长至转轴中心的尺内中线[15],尺内中线上有表示圆心角的刻度线;两个半球壳外表面边缘,均刻有一个带圆心角刻度线的圆环测角尺[8]和[9];所述极点标定器[16],有一个内表面与半径较小的半圆环测角尺外表面半径相同的半球薄壳[28],在其边缘[21]的相对位置上分别连接一条带有插头[23]的大圆带[25]和带有插口[20]的大圆带扣[19],大圆带和大圆带扣上的中线[26]和[18]分别与半球薄壳[28]内表面的大圆线[27]各端相连接,分别在大圆线[27]的两端点和中点处设有极点边孔[17]和极点中孔[29],另一极点中孔[24]设在大圆带[25]与大圆带扣[19]相连后的中点处,在半球薄壳边缘[21]上,两个极点边孔[17]之间的两个中点处,各开出一个极点缺口[22];所述指数尺[30]的外形为半圆柱壳,内表面半径与投影球面半径相同,其表面上有表示圆心角和各角度余弦值的两组正交的平行线条和一根余弦曲线[31];所述的平行线量角器[32]上有表示角度的刻度线和一组平行于0°刻度线的线条。
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