[发明专利]红外发光元件用外延晶片和使用该晶片的发光元件在审
申请号: | 00118399.0 | 申请日: | 2000-06-16 |
公开(公告)号: | CN1159773C | 公开(公告)日: | 2004-07-28 |
发明(设计)人: | 吉永敦;山本淳一;山崎昭弘 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01S5/30 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 红外发光元件用外延晶片具备在n型GaAs衬底上边,用液相生长法依次叠层了第1n型Ga1-x1Alx1As层(0<X1<1)、第2n型Ga1-x2Alx2As层(0<X2<1)、n型Ga1-x3Alx3As包层(0<X3<1)、发光波长在850~900nm范围内的p型Ga1-x4Alx4As有源层(0<X4<1)、p型Ga1-x5Alx5As包层(0<X5<1)之后,除去上述n型GaAs衬底后形成的上述5层,其中p型Ga1-x5Alx5As包层的层厚在5~30微米的范围内,该p型Gal-x5Alx5As包层中的氧浓度在3×1016原子/cm3以下。 | ||
搜索关键词: | 红外 发光 元件 外延 晶片 使用 | ||
【主权项】:
1.一种红外发光元件用外延晶片,该晶片具备在n型GaAs衬底上边,用液相外延生长法依次叠层了第1n型Ga1-x1Alx1As层(0<X1<1)、第2n型Ga1-x2Alx2As层(0<X2<1)、n型Ga1-x3Alx3As包层(0<X3<1)、发光波长在850~900nm范围内的p型Ga1-x4Alx4As有源层(0<X4<1)、p型Ga1-x5Alx5As包层(0<X5<1)之后,除去上述n型GaAs衬底后形成的上述5层,其特征是:该p型Ga1-x4Alx4As有源层的主要杂质为锗,该n型Ga1-x3Alx3As包层中的锗浓度是3×1016原子/cm3以下,该p型Ga1-x5Alx5As包层的层厚在5~30微米的范围内,该p型Ga1-x5Alx5As包层中的氧浓度在3×1016原子/cm3以下。
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