[发明专利]检测DNA芯片的制造方法无效
| 申请号： | 00119541.7 | 申请日： | 2000-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN1150336C | 公开（公告）日： | 2004-05-19 |
| 发明（设计）人： | 曾而良;刘建华;林志新 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | C12Q1/68 | 分类号： | C12Q1/68 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟 |
| 地址： | 20003*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 检测DNA芯片的制造方法的步骤如下：①寡核苷酸的合成与修饰，②寡核苷酸片段氧化，③寡核苷酸片段的标记，④玻片表面的脂肪氨基化，⑤寡核苷酸片段的固定。这种方法基于核酸保护原理的DNA芯片检测技术，DNA芯片各个位点的DNA探针量已知而且待测样品无需预先用同位素或荧光基团标记，因其操作简单、结果可靠而易于在临床诊断中推广。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 dna 芯片 制造 方法 | ||
【主权项】：
1、一种检测DNA芯片的制造方法，其特征在于该方法步骤如下①寡核苷酸的合成与修饰，②寡核苷酸片段氧化，③寡核苷酸片段的标记，④玻片表面的脂肪氨基化，⑤寡核苷酸片段的固定。
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