[发明专利]高精度地确定容器内充填物充填水平的方法和设备无效
| 申请号： | 00120061.5 | 申请日： | 2000-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN1280938A | 公开（公告）日： | 2001-01-24 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·拉尔拉;罗兰·马勒;迈克尔·辛兹;迪特马尔·斯庞克 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 |
| 主分类号： | B65B1/30 | 分类号： | B65B1/30;B65B3/26;G01S7/40;G01F23/284 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 孙征 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精度确定充填物(4)在容器(2)内的充填水平(q)的方法,其中,测量信号朝充填物(4)的表面(5)的方向发射和在此表面(5)上作为回波信号反射,以及,通过计算反射的回波信号的振幅值(A)和相位值(φ)借助于脉冲延迟时间法确定容器(2)内的充填水平(q)。此外还建议了一种适用于实施此方法的设备。本发明的目的是提供一种方法和一种设备,它们甚至在出现多径传播或多模传播时也能高精度测量容器(2)内的充填水平。此目的采取下列措施达到,即,补偿在确定充填水平(q)时出现的和由干扰信号引起的误差,干扰信号结构性或破坏性地干扰在充填物(4)表面(5)上正规地反射的回波信号。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 确定 容器 充填 水平 方法 设备 | ||
【主权项】：
1．高精度确定充填物在容器内的充填水平的方法，其中，测量信号朝充填物表面的方向发射和在此表面上作为回波信号反射，以及，通过计算反射的回波信号的振幅值和相位值借助于脉冲延迟时间法确定容器内的充填水平，其特征为：补偿在确定充填水平(q)时出现的和由于干扰信号引起的误差，干扰信号结构性或破坏性地干扰在充填物(4)表面(5)上正规反射的回波信号。
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