[发明专利]半导体集成电路及其检查方法、液晶装置及电子装置无效

专利信息
申请号: 00121735.6 申请日: 2000-07-24
公开(公告)号: CN1145213C 公开(公告)日: 2004-04-07
发明(设计)人: 青木茂树;上条治雄 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;G02F1/133;H01L21/66;G01R31/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种使脉宽可变的半导体集成电路,在检查工序时,使对锁存器输出进行初始化的复位信号的脉宽较宽,在通常使用时使该脉宽较窄。该半导体集成电路有:根据电源接通复位信号生成复位信号的复位信号生成电路;以及备有根据该复位信号使锁存器输出初始化的初始化电路的锁存电路。复位信号生成电路有以可变方式设定相当于复位信号的复位期间的脉宽的延迟电路。
搜索关键词: 半导体 集成电路 及其 检查 方法 液晶 装置 电子
【主权项】:
1.一种半导体集成电路,其特征在于:备有:至少在电源刚接通后根据所输入的输入信号,生成有复位期间的复位信号的复位信号生成电路;备有根据上述复位信号使锁存器输出初始化的初始化电路的至少一个锁存电路;连接到上述复位信号生成电路上的第一焊区端子;以及连接到上述初始化电路的输出线上的至少一个第二焊区端子,上述复位信号生成电路有以可变方式设定相当于上述复位信号的上述复位期间的脉宽的延迟电路,上述延迟电路根据连接到上述第一焊区端子上的负载,使上述脉宽可变。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00121735.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top