[发明专利]光学头及其制造方法、光信息记录/再现设备无效
申请号: | 00121786.0 | 申请日: | 2000-08-01 |
公开(公告)号: | CN1129123C | 公开(公告)日: | 2003-11-26 |
发明(设计)人: | 立野公男;德田正秀;佐野博久;田中俊明;岛野健;中村滋;前田武志;有本昭 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G11B7/12 | 分类号: | G11B7/12;G11B7/125;G11B7/13 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杨国旭 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种光学头及其制造方法、光信息记录/再现设备。可以使用一个单独的信息记录和再现设备,把信息记录到包括CD和DVD的不同类型光盘上和从其上再现信息。解决方案是集成多个有不同波长的半导体激光器和一个反射镜,在用OEIC、PD模式形成的基片上有附标对准。 | ||
搜索关键词: | 光学 及其 制造 方法 信息 记录 再现 设备 | ||
【主权项】:
1.一种光学头,其特征在于,在一个已经部分地去掉其表面的基片中形成的凹槽内,安装一个具有用于读出或记录来自记录媒体的数据的第一振动波长的第一激光光源,和一个具有不同于第一振动波长或变成第一振动波长的第二振动波长的第二激光光源;从所述第一和第二激光光源发射的激光束被一个构成一部分所述凹槽的反射镜所反射,并在一个基片表面的法线方向上或在一个从基片表面离开的方向上输出;提供一个第一光电检测器装置,用于根据在所述记录媒体表面反射以后返回的激光束,得到离焦检测信号;一个第二光电检测器装置,用于得到一个跟踪误差检测信号和一个信息再现信号;和一个第三光电检测器装置,用于监测从第一或第二激光光源发射的光的光量;以及在所述第一光电检测器装置中,用于根据来自第一激光光源的激光束检测离焦检测信号的装置和用于根据来自第二激光光源的激光束检测离焦检测信号的装置彼此之间是隔开的。
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