[发明专利]处理一批半导体晶片的设备和方法无效

专利信息
申请号: 00121997.9 申请日: 2000-06-22
公开(公告)号: CN1163945C 公开(公告)日: 2004-08-25
发明(设计)人: 张普舜 申请(专利权)人: 现代电子产业株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;G06F9/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄敏
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在半导体工厂自动化系统中处理一批半导体晶片的方法,包括以下步骤:a)确定可在第一操作方式下工作的第一处理设备是否有对应于一批半导体晶片的作业文件,其中作业文件表示半导体工艺需要的数据;b)如果可在第一操作方式下工作的第一处理设备有作业文件,根据第一处理设备中的作业文件处理一批半导体晶片;c)如果在第一操作方式下工作的第一处理设备没有作业文件,那么在第二操作方式下将作业文件提供到第二处理设备;d)根据第二处理设备中的作业文件处理一批半导体晶片。
搜索关键词: 处理 一批 半导体 晶片 设备 方法
【主权项】:
1.一种处理一批半导体晶片的设备,其中一批定义为预定数量的半导体晶片,包括:第一半导体处理装置,能够在第一操作方式下工作,用于根据表示半导体工艺所需要数据的作业文件处理一批半导体晶片;第二半导体处理装置,能够在第二操作方式下工作,用于根据作业文件处理一批半导体晶片;确定装置,用于确定所述第一半导体处理装置是否有作业文件;以及提供装置,用于如果所述第一半导体处理装置没有作业文件,则将作业文件提供到所述第二半导体处理装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于现代电子产业株式会社,未经现代电子产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00121997.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top