[发明专利]光学信息介质和读取方法有效

专利信息
申请号: 00122656.8 申请日: 2000-06-30
公开(公告)号: CN1156824C 公开(公告)日: 2004-07-07
发明(设计)人: 菊川隆;宇都宫肇;新開浩;加藤達也 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/24
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 马浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在一种包括一具有凸起和凹坑并/或能够形成记录标记的信息支承表面的光学信息介质中,一个功能层被加入。使用波长大于4NA·PL的读取光可以读出在所述信息支承表面上记载的信息,其中PL是所述凸起和凹坑或记录标记的最小尺寸,NA是读取光学系统的数值孔径,将读取光的功率设置在功能层不会改变其复数折射率的范围内,将读取光辐射到由功能层构成的信息支承表面,或者通过功能层辐射到达信息支承表面,或者通过信息支承表面辐射到达功能层。此介质能以超出衍射极限的高分辨率来读出。
搜索关键词: 光学 信息 介质 读取 方法
【主权项】:
1.使用一种光学信息介质的方法,该光学信息介质包括一具有凸起和凹坑并/或能够形成记录标记的信息支承表面和一具有增加空间分辨率功能的功能层,其中在该信息支承表面的信息使用波长大于4NA·PL的读取光来读取,其中PL是所述凸起和凹坑或所述记录标记的最小尺寸,NA是读取光学系统的数值孔径;将读取光的功率设置在所述功能层不会改变其复数折射率的范围内;以及将读取光辐射到达由功能层构成的所述信息支承表面,或者通过功能层到达所述信息支承表面,或者通过所述信息支承表面到达功能层。
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