[发明专利]光学信息介质和读取方法有效
申请号: | 00122656.8 | 申请日: | 2000-06-30 |
公开(公告)号: | CN1156824C | 公开(公告)日: | 2004-07-07 |
发明(设计)人: | 菊川隆;宇都宫肇;新開浩;加藤達也 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B7/24 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 马浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在一种包括一具有凸起和凹坑并/或能够形成记录标记的信息支承表面的光学信息介质中,一个功能层被加入。使用波长大于4NA·PL的读取光可以读出在所述信息支承表面上记载的信息,其中PL是所述凸起和凹坑或记录标记的最小尺寸,NA是读取光学系统的数值孔径,将读取光的功率设置在功能层不会改变其复数折射率的范围内,将读取光辐射到由功能层构成的信息支承表面,或者通过功能层辐射到达信息支承表面,或者通过信息支承表面辐射到达功能层。此介质能以超出衍射极限的高分辨率来读出。 | ||
搜索关键词: | 光学 信息 介质 读取 方法 | ||
【主权项】:
1.使用一种光学信息介质的方法,该光学信息介质包括一具有凸起和凹坑并/或能够形成记录标记的信息支承表面和一具有增加空间分辨率功能的功能层,其中在该信息支承表面的信息使用波长大于4NA·PL的读取光来读取,其中PL是所述凸起和凹坑或所述记录标记的最小尺寸,NA是读取光学系统的数值孔径;将读取光的功率设置在所述功能层不会改变其复数折射率的范围内;以及将读取光辐射到达由功能层构成的所述信息支承表面,或者通过功能层到达所述信息支承表面,或者通过所述信息支承表面到达功能层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TDK株式会社,未经TDK株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00122656.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端,信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置