[发明专利]高通量电旋转检测的装置和方法无效

专利信息
申请号: 00124086.2 申请日: 2000-08-18
公开(公告)号: CN1319761A 公开(公告)日: 2001-10-31
发明(设计)人: 程京;许俊泉;朱小山;刘理天;王小波;吴镭 申请(专利权)人: 清华大学;腾隆科技公司
主分类号: G01N33/487 分类号: G01N33/487;G01N33/50
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及含有电旋转单元阵列的高通量电旋转芯片及这些芯片进行高通量检测的方法。为了制作高通量电旋转芯片,在基底或支撑物上加工出多个电旋转单元,每个电旋转单元在施加合适的电信号后能产生旋转电场。电旋转芯片的实施例是由多个通过两个导电层实现的四个电极组成的电旋转单元所形成的行列结构。电极形状可以是蝴蝶形、线形、内凹圆弧形或外凸圆弧形。有一个或多个孔的薄片与高通量电旋转芯片结合形成有一个或多个反应池的反应腔。将微粒导入反应池中并对其进行电旋转测量。高通量电旋转芯片和反应腔可以用于基于细胞的从化合物库中筛选先导候选药物分子以及高通量的微粒电性质测定和未知溶液分子组成的高通量检测。
搜索关键词: 通量 旋转 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种电旋转芯片包括:一个基底分布在基底上的多个电旋转单元,每个电旋转单元包括位于基底上的多个电极,当对这些电极施加多个相位偏移的电信号时可以产生一个旋转电场。
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