[发明专利]正型光致抗蚀剂层及其使用方法有效

专利信息
申请号: 00126840.6 申请日: 2000-09-06
公开(公告)号: CN1297169A 公开(公告)日: 2001-05-30
发明(设计)人: 周振豪;李有京;朴弘植;罗允静;金玑洙;姜圣哲;康升镇 申请(专利权)人: 三星电子株式会社;东友半导体株式会社
主分类号: G03F7/16 分类号: G03F7/16
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 封新琴
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种阳性光致抗蚀剂层的制备方法。在该方法中,将所述光致抗蚀剂组合物滴加到形成于基片上的绝缘层或导电性金属层上。所述光致抗蚀剂组合物包含聚合物树脂、由于曝光而使光致抗蚀剂层的溶解度发生改变的感光剂及溶剂。将上述涂敷了光致抗蚀剂组合物的基片以1250至1350rpm的转速旋转4.2至4.8秒。然后,干燥上述涂覆了光致抗蚀剂组合物的基片并将上述干燥的基片进行曝光。接着,利用碱性显像液清除曝光部位。所述溶剂包括乙酸3-甲氧基丁酯和4-丁内酯,或者包括乙酸3-甲氧基丁酯、2-庚酮和4-丁内酯。
搜索关键词: 正型光致抗蚀剂层 及其 使用方法
【主权项】:
1.一种阳性光致抗蚀剂层的制造方法,其包括如下步骤:将所述光致抗蚀剂组合物滴加在形成于基片上的绝缘层或导电性金属层上,将上述基片以1250至1350rpm的转速旋转4.2至4.8秒,从而将所述光致抗蚀剂组合物涂覆在所述绝缘层或导电性金属层上,所述光致抗蚀剂组合物包含聚合物树脂、由于曝光而使光致抗蚀剂层的溶解度发生改变的感光剂及溶剂;干燥上述涂覆了光致抗蚀剂组合物的基片;对上述干燥的基片进行曝光;及利用碱性显像液清除曝光部位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社;东友半导体株式会社,未经三星电子株式会社;东友半导体株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00126840.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top