[发明专利]检测再现信号的方法和电路无效
| 申请号： | 00128779.6 | 申请日： | 2000-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN1289115A | 公开（公告）日： | 2001-03-28 |
| 发明（设计）人： | 朱盛晨;大塚达宏;李坰根 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/005 | 分类号： | G11B7/005;G11B7/13;G11B20/22 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种检测再现信号的方法和电路,该电路包括检测器,控制单元和补偿器。检测器检测对应于一些信号的组合的光检测器件的输出,这些信号分别与在光道方向排列、与在径向排列,与对角排列的光电检测装置的区段对应;控制单元根据记录介质上的数据情况、从相近凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、系统状态检测结果,提供选择控制信号和补偿信号;补偿器自适应补偿选择的输出。因而只有光检测器件的最小劣变的输出被用作再现信号。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 再现 信号 方法 电路 | ||
【主权项】：
1、一种使用光检测器件检测再现信号的方法，该光检测器件用于接收从光记录介质反射的光信号，并且将接收的信号划分成对应于光检测器件的区段的多个信号，该光检测器件区段以矩阵排列，该矩阵具有光记录介质的切线方向上的行和径向方向上的列，该方法包括步骤：(a)根据记录在光记录介质上的数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或各种系统状态，从光检测器件的输出信号中选择比其它信号有更小劣变的某些信号；和(b)基于检测结果，通过补偿由于数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或各种系统状态引起的信号干扰量，从选择信号中获得再现信号。
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