[发明专利]半导体器件及其制造方法无效
申请号: | 00137264.5 | 申请日: | 2000-11-08 |
公开(公告)号: | CN1156010C | 公开(公告)日: | 2004-06-30 |
发明(设计)人: | 泷本贵博;福岛稔彦;大久保勇;细川诚;久保胜 | 申请(专利权)人: | 夏普公司 |
主分类号: | H01L27/14 | 分类号: | H01L27/14;H01L21/82 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体器件,包括:主要由第一导电类型的半导体多层结构与第二导电类型的第一半导体层之间的PN结构成的光敏部件;和把光敏部件分成多个区的隔离部分。第一导电类型的半导体多层结构包括第一导电类型的半导体衬底;第一导电类型的第一半导体层;和第一导电类型的第二半导体层。隔离部分包括从第二导电类型的第一半导体层伸到第一导电类型的第二半导体层的第一导电类型的第三半导体层。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:第一导电类型的半导体多层结构;形成在第一导电类型的半导体多层结构上的第二导电类型的第一半导体层;光敏部件,包括在第一导电类型的半导体多层结构与第二导电类型的第一半导体层之间的PN结;和把光敏部件分割成多个区域的隔离部分;其中,第一导电类型的半导体多层结构包括:第一导电类型的半导体衬底;在第一导电类型的半导体衬底上形成的第一导电类型的第一半导体层;和在第一导电类型的第一半导体层上形成的第一导电类型的第二半导体层;其中,在被第一导电类型的第三半导体层包围的区域内形成光敏部件,第一导电类型的第三半导体层从第二导电类型的第一半导体层的表面延伸到第一导电类型的第二半导体层,和在第一导电类型的第三半导体层下面设置的第一导电类型的第四半导体层,其中,第一导电类型的第四半导体层被至少一部分第一导电类型的第三半导体层覆盖,伸过第一导电类型的第二半导体层,并至少到达第一导电类型的第一半导体层,其特征在于,隔离部分包括第一导电类型的第五半导体层,其从第二导电类型的第一半导体层伸到第一导电类型的第二半导体层,但不到达第一导电类型的第一半导体层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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