[实用新型]基于CMOS器件平面成像的光学检测装置无效
申请号: | 00203108.6 | 申请日: | 2000-01-31 |
公开(公告)号: | CN2491831Y | 公开(公告)日: | 2002-05-15 |
发明(设计)人: | 鲍立威;张宇明;蔡颖;丁元欣 | 申请(专利权)人: | 鲍立威 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 林怀禹 |
地址: | 310013 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 基于CMOS器件平面成像的光学检测装置,步进电机带动暗箱内的传动丝杆转动,带动镜头安装套作上下运动,改变被检测的光学镜头与CMOS器件之间的距离,找到最佳成像距离。直流恒光源经光栅标板形成标准光信号经光学镜头形成检测光信号,经CMOS电路转换为电信号,经A/D转换为数字信号由微机处理,计算出光学镜头的主要技术参数,并可将这些技术参数在显示器上显示的同时存入硬盘。本实用新型测量简便、高效和能实现高精度检测。 | ||
搜索关键词: | 基于 cmos 器件 平面 成像 光学 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.基于CMOS器件平面成像的光学检测装置,其特征在于它包括机械装置,光电转换装置和信号处理装置:1)机械装置:包括在暗箱[9]外装有步进电机[2],步进电机[2]通过连接套与暗箱[9]内的传动丝杆[3]连接,传动丝杆[3]上装有能沿暗箱[9]两侧的导向槽[8]作上下移动的平台[4],平台[4]下面有CMOS器件[7],平台[4]孔内装有光学镜头安装套[10],暗箱[9]外的光学镜头安装套[10]上方装有光栅标板[12]的光源盒[1];2)光电转换装置:包括由CMOS器件[7]与光电电路[14]为一体的CMOS电路[15],经A/D转换电路[13]接入微机的PC总线;步进电机[2]经步进电机控制电路[16]、电路接口[17]接入微机的并行口;3)信号处理装置:包括一台微机,其电路接口为微机的并行口,A/D转换电路插入微机的PC总线。
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