[实用新型]抗单粒子效应辐射屏蔽件无效
| 申请号： | 00231958.6 | 申请日： | 2000-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN2427435Y | 公开（公告）日： | 2001-04-25 |
| 发明（设计）人： | 林云龙;蔡金荣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | B64G1/54 | 分类号： | B64G1/54 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 崔茹华 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 抗单粒子效应辐射屏蔽件,涉及一种抗辐射屏蔽屏蔽件,它能够降低空间辐射环境对航天器电子学器件产生的单粒子效应程度,减少其危害。由白陶瓷、单面镀铝聚酰胺薄膜组成,它的结构是层状叠装;白陶瓷由Al2O3、SiO2、CaO、Fe2O3、Cu,Ti等重金属构成,组分是90～95%重量的Al2O3、3～6%重量的SiO2、2～5%重量的CaO、0.03%重量的Fe2O3、0.02%重量的Cu,Ti等重金属,单面镀铝聚酰胺薄膜,铝膜与白陶瓷粘接。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 效应 辐射 屏蔽 | ||
【主权项】：
1、一种抗单粒子效应辐射屏蔽件，其特征在于由白陶瓷、单面镀铝聚酰胺膜组成，它的结构是层状叠装胶结而成；白陶瓷的成分是：Al2O3、SiO2、CaO、Fe2O3、Cu、Ti重金属构成，组分是90～95％重量的Al2O3、3～6％重量的SiO2、2～5％重量的CaO、0．03％重量的Fe2O3、0．02％重量的Cu，Ti重金属。
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