[发明专利]使用低功率雷达层级发射机测量过程产品介电常数有效
申请号: | 00800011.5 | 申请日: | 2000-01-18 |
公开(公告)号: | CN1293761A | 公开(公告)日: | 2001-05-02 |
发明(设计)人: | 库尔特·C·迪登 | 申请(专利权)人: | 罗斯蒙德公司 |
主分类号: | G01S13/88 | 分类号: | G01S13/88;G01N22/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 戎志敏 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种使用低功率雷达层级发射机计算罐中产品的介电常数的方法。控制低功率时域反射计雷达(LPTDRR)电路,计算在终端(110)下部延伸进入罐中产品(26)传输微波能量和反射微波能量之间的时间延迟。按照一些具体实施例,作为时间延迟的函数计算产品的介电常数。按照另一些实施例,通过控制LPTDRR电路计算发射和接收脉冲的幅度,计算介电常数。产品的介电常数是作为发射和接收脉冲幅度的函数计算的。 | ||
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【主权项】:
1.一种用于测量具有第一和第二产品界面的过程产品介电常数的低功率雷达层级发射机,所述发射机包括:可伸入所述过程产品的终端;连接到所述终端的脉冲发生器,所述脉冲发生器产生沿终端进入产品的微波发射脉冲,在第一个产品界面反射发射脉冲的第一部分,在第二个产品界面反射发射脉冲的第二部分;连接到所述终端的脉冲接收机,所述脉冲接收机接收对应于第一产品界面反射的发射脉冲第一部分的第一反射波脉冲,并接收对应于第二产品界面反射的发射脉冲第二部分的第二反射波脉冲;连接到所述脉冲接收机的阈值控制器,所述阈值控制器检测第一反射波脉冲是否至少满足第一个阈值,并根据第一反射波脉冲的检测提供接收脉冲输出信息;以及,连接到阈值控制器的介电常数计算器。
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