[发明专利]薄膜晶体管的制造方法无效

专利信息
申请号: 00800436.6 申请日: 2000-03-29
公开(公告)号: CN1297581A 公开(公告)日: 2001-05-30
发明(设计)人: 汤田坂一夫;下田达也;关俊一 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336;H01L21/208;H01L21/316;H01L21/288;G02F1/1368
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 魏金玺,杨丽琴
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用液体材料形成构成薄膜晶体管的硅膜、绝缘膜、导电膜等的薄膜的全部或一部分。其主要的方法是,采用向基板上涂敷液体材料形成涂敷膜,对该涂敷膜进行热处理的办法形成所希望的薄膜。
搜索关键词: 薄膜晶体管 制造 方法
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管的制造方法,该方法是具有硅膜、栅极绝缘膜、栅极电极用导电膜、层间绝缘膜、电极和布线用导电膜的各种薄膜的薄膜晶体管的制造方法,其特征是:上述硅膜的形成,含涂敷含有硅原子的液体材料形成涂敷膜的工序,和其次使该涂敷膜变成为硅膜的热处理工序和/或光照射工序。
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