[发明专利]IC制造业中的PECVD-Ti和CVD-Ti薄膜的单一腔室加工方法无效
申请号: | 00800630.X | 申请日: | 2000-04-19 |
公开(公告)号: | CN1304549A | 公开(公告)日: | 2001-07-18 |
发明(设计)人: | 格里特·J·勒欣克;迈克尔·G·沃德;迈克尔·S·阿梅恩;约瑟夫·T·希尔曼 | 申请(专利权)人: | 东京电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/285 | 分类号: | H01L21/285;H01L21/3205 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 程坤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于将含有钛和氮化钛薄膜的堆叠层淀积到一晶片表面上的单腔室方法。利用等离子体增强化学气相淀积工艺对钛进行淀积并且接着进行等离子体氮化。然后利用热化学气相淀积工艺对氮化钛进行淀积。更可取地,基体和莲蓬式喷头的温度以及腔室内部压力在整个堆叠层淀积的过程中保持在基本恒定的值。 | ||
搜索关键词: | ic 制造业 中的 pecvd ti cvd 薄膜 单一 加工 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在一单一腔室中将一包含有钛和氮化钛薄膜的堆叠层淀积在一晶片表面上的方法,包括如下步骤:将一具有一晶片表面的基体放置在反应室中,并与一莲蓬式喷头保持间隔;通过在所述腔室中形成由卤化钛和氢气组成的混合气体的第一等离子体,将一钛薄膜淀积在该腔室中的晶片表面上;通过形成从包含氨气、氮气及它们的混合气体的组中选择出的气体的第二等离子体,在所述腔室中对淀积的钛薄膜进行氮化;以及通过利用包含有卤化钛和氮源气体的混合气体进行热CVD工艺,在所述腔室中在经过氮化的淀积钛薄膜上再淀积一层氮化钛薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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