[发明专利]双向取向薄膜以及磁记录介质有效

专利信息
申请号: 00801746.8 申请日: 2000-08-24
公开(公告)号: CN1320138A 公开(公告)日: 2001-10-31
发明(设计)人: 漥田啓;中岛彰二;中森由佳里;恒川哲也 申请(专利权)人: 东丽株式会社
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;B32B27/36;G11B5/73;//C08L6700
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杨宏军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的在于提供一种特别是用于磁记录介质时,电磁转换特性、走行耐久性和对磁头的走行性优良的高品质双向取向薄膜。本发明的目的是通过下述双向取向薄膜实现的,其特征在于它由以聚酯(聚合物1)和聚酯以外的热塑性树脂(聚合物2)作为必须成分的聚合物合金构成,至少1个表面具有突起高度为2~50nm的微细突起100万~9000万个/mm2。
搜索关键词: 双向 取向 薄膜 以及 记录 介质
【主权项】:
1、双向取向薄膜,它由以聚酯(聚合物1)和聚酯以外的热塑性树脂(聚合物2)作为必须成分的聚合物合金构成,至少1个表面具有突起高度为2~50nm的微细突起100万~9000万个/mm2。
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