[发明专利]计算X射线断层摄影环污迹的渐进校正无效
| 申请号： | 00802723.4 | 申请日： | 2000-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN1336810A | 公开（公告）日： | 2002-02-20 |
| 发明（设计）人： | 赖景明 | 申请（专利权）人： | 模拟技术公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 韩宏 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在用于渐进校正计算X射线断层摄影系统(102)中的环污迹的方法和设备(100)中,可利用单一信道环污迹来减弱或消除多信道环污迹。检测器信道(22)被迭代地分组(106—114)成各种大小的组,例如一对,并且确定每个检测器信道组的偏移误差值。对应于每个检测器信道的误差值在每一次迭代时进行累积(116),并且最终的累积值(118)被施加给捕获的投影数据(100)。以这种方式,通过几次迭代就可以消除图像中的环污迹。 | ||
| 搜索关键词： | 计算 射线 断层 摄影 污迹 渐进 校正 | ||
【主权项】：
1、一种用于校正物体图像中多信道环污迹的方法，其中该物体图像是由具有用于捕获一个物体的投影数据的检测器信道阵列的计算X射线断层摄影系统产生的，包括：以迭代方式将检测器信道分组成检测器信道组，以及利用所捕获的投影数据确定每个检测器信道分组相对于其它检测器信道分组的偏移误差值；以及利用该偏移误差值校正所捕获的投影数据。
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