[发明专利]多端口装置的分析设备和方法及其校正方法无效

专利信息
申请号: 00803374.9 申请日: 2000-02-07
公开(公告)号: CN1157607C 公开(公告)日: 2004-07-14
发明(设计)人: 中山喜和;我田浩隆;饭田实 申请(专利权)人: 株式会社鼎新;鼎新美国研究中心
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R15/12
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括:一个信号源(112),用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子;多个测试端口(P1-Pn),用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口;多个测量单元(MU1-MUn),用于测量来自相应测试端口的信号;一个参考信号测量单元(R),用于测量测试信号,以获得参考数据;多个终端电阻(TR1-TRn),每个被分配给一个测试端口;和开关装置(SW1-SWn),用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一,将终端电阻从输入测试端口断开,同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口;其中获得多端口DUT的参数,而不改变测试端口和DUT端子之间的连接,同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口。
搜索关键词: 多端 装置 分析 设备 方法 及其 校正
【主权项】:
1、一种多端口装置分析设备,用于测试具有多个终端的多端口装置,包括:一个信号源,用于将一个测试信号提供给多端口装置的一个端子;多个测试端口,用于将多端口装置的所有端子连接到相应的测试端口;多个测量单元,用于测量来自被连接到多端口装置相应端子的相应测试端口的信号;一个参考信号测量单元,用于测量测试信号,以获得多个测量单元对来自测试端口的信号进行测量的相关参考数据;多个终端电阻,每个被分配给一个测试端口;和开关装置,用于选择性地将测试信号提供给测试端口之一,其中该测试端口为输入端口,将终端电阻从输入测试端口断开,同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口;其中,在不改变测试端口和多端口装置端子之间的连接的条件下,获得多端口装置的参数,同时由开关装置改变测试端口的选择,直到所有的测试端口已经被指定为输入测试端口,且其中所述测试端口的总数为四个或更多。
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