[发明专利]对自动测试设备内参数测量单元监测和控制的结构

摘要

本发明披露了一种在自动测试设备内使用的插脚片电路系统。插脚片电路系统包括采用CMOS技术实现的部分和采用双极型技术实现的部分。CMOS部分包括多个定时发生器电路、用于产生表示模拟基准电平的数字比特流的数字∑－Δ调制器电路系统,以及可编程数字信号处理电路系统。双极型部分包括驱动器/接收器通道、参数测量单元以及解码器电路系统。解码器电路系统根据调制器电路系统产生的数字比特流产生模拟基准电平。驱动器/接收器通道和参数测量单元使用模拟基准电平;并且数字信号处理电路系统用于对参数测量单元产生的电平进行监测和控制。与传统插脚片电路系统比较,本发明所披露的插脚片电路系统的优势在于可以减小尺寸并降低成本。

主权项

1.一种适合用于自动测试系统的半导体芯片，该半导体芯片包括：调制电路，具有控制输入和与半导体芯片的输出焊盘相连的输出，该调制电路在其输出端产生后续被转换为第一DC电平的数字比特流，数字比特流表示调制电路的控制输入端的值；以及可编程数字信号处理装置，用于对第一DC电平进行监测和控制，数字信号处理装置包括与半导体芯片的输入焊盘相连的模数通道，模数通道用于将施加到输入焊盘的第二DC电平转换为数字数据，第二DC电平与第一DC电平成正比，其中对数字信号处理装置进行编程，以确定数字数据与存储在存储器内的理想数据之间的偏差，并对调制电路的控制输入端的值进行控制，将此偏差减小到最小。