[发明专利]电子电路内装自测试的装置和方法有效
| 申请号： | 00805160.7 | 申请日： | 2000-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN1344416A | 公开（公告）日： | 2002-04-10 |
| 发明（设计）人： | O·克尼夫勒;G·迪舍尔 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 马铁良,张志醒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及既包含组合逻辑电路10也包含存储器12的电子电路的内装的自测试装置和方法,其中,为逻辑电路10和存储器12提供一公共自测试电路,并且同时进行逻辑电路和存储器的自测试。 | ||
| 搜索关键词： | 电子电路 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.用于包含组合逻辑电路(10)和存储器(12)的电子电路的内装自测试的装置，其特征为，为逻辑电路(10)和存储器(12)提供一公共的自测试电路。
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