[发明专利]电子电路内装自测试的装置和方法有效
申请号: | 00805160.7 | 申请日: | 2000-03-13 |
公开(公告)号: | CN1344416A | 公开(公告)日: | 2002-04-10 |
发明(设计)人: | O·克尼夫勒;G·迪舍尔 | 申请(专利权)人: | 因芬尼昂技术股份公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,张志醒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及既包含组合逻辑电路10也包含存储器12的电子电路的内装的自测试装置和方法,其中,为逻辑电路10和存储器12提供一公共自测试电路,并且同时进行逻辑电路和存储器的自测试。 | ||
搜索关键词: | 电子电路 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.用于包含组合逻辑电路(10)和存储器(12)的电子电路的内装自测试的装置,其特征为,为逻辑电路(10)和存储器(12)提供一公共的自测试电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于因芬尼昂技术股份公司,未经因芬尼昂技术股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00805160.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:除去废水中的悬浮物及其它物质的方法
- 下一篇:器官的停止、保护和保存