[发明专利]电子电路内装自测试的装置和方法有效

专利信息
申请号: 00805160.7 申请日: 2000-03-13
公开(公告)号: CN1344416A 公开(公告)日: 2002-04-10
发明(设计)人: O·克尼夫勒;G·迪舍尔 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,张志醒
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及既包含组合逻辑电路10也包含存储器12的电子电路的内装的自测试装置和方法,其中,为逻辑电路10和存储器12提供一公共自测试电路,并且同时进行逻辑电路和存储器的自测试。
搜索关键词: 电子电路 测试 装置 方法
【主权项】:
1.用于包含组合逻辑电路(10)和存储器(12)的电子电路的内装自测试的装置,其特征为,为逻辑电路(10)和存储器(12)提供一公共的自测试电路。
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