[发明专利]扩展频谱接收装置及接收方法无效

专利信息
申请号: 00805214.X 申请日: 2000-06-06
公开(公告)号: CN1161890C 公开(公告)日: 2004-08-11
发明(设计)人: 石冈和明 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H04B1/707 分类号: H04B1/707
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘宗杰;叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种扩展频谱接收装置,具有瑞克合成路径时间检测器,通过进行功率循环积分来改善信号功率比,根据改善了信号功率比的相关功率值作成延迟曲线,在使用该延迟曲线进行第1路径的检测的同时,与检测出的第1路径信号的延迟时间的偏差对应,从存储考虑了干扰和热噪声的时间相关后预先计算出来的校正系数的校正系数存储装置中读出校正系数,使用该校正系数对延迟曲线的相关功率值进行校正,从校正的延迟曲线中检测出第2路径。
搜索关键词: 扩展 频谱 接收 装置 方法
【主权项】:
1、一种扩展频谱接收装置,其特征在于:包括瑞克合成装置,具有:通过使用延迟了规定时间的逆扩展码对扩展调制后发送的扩展频谱信号进行逆扩展并利用上述扩展频谱信号分离规定的延迟时间的信号的多个逆扩展装置;将适于瑞克合成的路径的信号的延迟时间作为第1和第2延迟控制信号输出的瑞克合成路径时间检测装置;具有根据上述延迟控制信号将供给上述逆扩展装置的逆扩展信号延迟的延迟装置,和延迟曲线作成装置,将具有将上述扩展频谱信号和参考扩展码的相关值变换成功率的相关功率值的采样点对每个延迟时间排列,并作成记录了分别附加地址编号的采样点的延迟曲线;校正系数存储装置,将利用干扰和热噪声的时间相关计算的校正系数按每一个延迟时间的偏差存储起来;偏差测定装置,测定相关功率值为最大的采样点的延迟时间和上述延迟曲线的其他采样点的延迟时间的偏差;和延迟曲线校正装置,将上述偏差测定装置根据测定的偏差,从上述校正系数存储装置读出的校正系数和上述延迟曲线中最大相关功率值相乘的乘积值和对应的地址编号的采样点的相关功率值相加,对上述延迟曲线的相关功率值进行校正;上述瑞克合成路径时间检测装置具有信号检测装置,在上述延迟曲线作成装置作成的延迟曲线中检测相关功率值最大的信号,将已检测出的信号的延迟时间作为第1延迟控制信号,将在上述延迟曲线校正装置校正过的延迟曲线中相关功率值最大的采样点的延迟时间作为第2延迟控制信号,向上述延迟装置输出。
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