[发明专利]电磁波发生源查找装置,其方法和其分析方法无效

专利信息
申请号: 00806523.3 申请日: 2000-04-21
公开(公告)号: CN1352745A 公开(公告)日: 2002-06-05
发明(设计)人: 上坂晃一;新保健一 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01B7/00;G01S5/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明,王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供为了将装置远方的电磁场强度抑制在规定值以下,以高精度,高速地查找,指定造成装置远方的电磁场的主要原因(电磁妨碍波)的发生源的电磁波查找装置及其方法,以及电磁波发生源分析系统及其方法。本发明的特征在于通过至少设置有2个的探头(101,102),测定受测对象(110)的附近的磁场,通过采用该2个探头的相位差的1个函数的简单计算,查找电磁波发生源的位置,求解包括该位置信息和测定磁场的值的联立方程式,由此计算受测对象上的电流分布,根据该电流分布,通过计算求出装置远方的电磁场,由此指定造成装置远方的电磁场的主要原因的发生源。
搜索关键词: 电磁波 生源 查找 装置 方法 分析
【主权项】:
1.一种电磁波发生源查找装置,该电磁波发生源查找装置包括;多个探头,该多个探头在沿受测对象的附近的受测对象平面,按照2维坐标变化的相应测定位置,测定由电子设备的受测对象产生的电磁场的强度;计算机构,该计算机构根据通过上述多个探头中的每个在上述各测定位置测定的电磁场的强度,计算上述探头之间的磁场的相位差或时间差,根据针对上述各测定位置计算的相位差或时间差,从上述多个探头相对受测对象的几何学的关系求出在受测对象平面上推断的电磁波发生源的轨迹,查找上述求出的,于多个测定位置推断的电磁波发生源的轨迹的交点,由此计算,并指定位于受测对象上的电磁波发生源的位置。
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