[发明专利]传导波地层电阻率测量装置无效

专利信息
申请号: 00812454.X 申请日: 2000-06-02
公开(公告)号: CN1434926A 公开(公告)日: 2003-08-06
发明(设计)人: E·C·弗雷泽;H·莫雷 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01V3/30 分类号: G01V3/30;E21B47/01
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯,张志醒
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 边钻井边用井孔中的装置测量周围地层的传导波电阻率。该装置具有一个位于钻套(302)中的探测器(310),在钻井行程中,钻套外表面靠近地层。探测器在其外壳外第一位置有一个或多个发射天线(315-1,315-4)向地层发射询问信号,还有一个或多个接收天线(315-2,315-3)接收地层对询问信号的响应信号。外壳(330)具有基本光滑的外表面,天线绕在外壳上的凹槽(312-1,312-2,312-3,312-4)中,将凹槽填充至与光滑的外表面齐平。钻套(302)的构造可将探测器上发射天线发出的询问信号传送到地层,并将地层对询问信号的响应信号传送到探测器上的接收天线。
搜索关键词: 传导 地层 电阻率 测量 装置
【主权项】:
1.一种用于测量钻井装置所钻井孔周围地层参数的装置,它包括:具有多个部件的空心钻套构件,在钻井装置进入井孔时其外部靠近地层;以及所述钻套构件内的探测器,所述探测器包括:外壳;一个或多个发射天线,绕在所述钻套构件第一部分内的所述外壳外表面的第一位置,用于向所述地层发射询问信号;以及一个或多个接收天线,绕在距所述钻套构件第一部分内、与所述第一位置有一定间距的所述外壳外表面的第二位置,用于接收所述地层对所述询问信号的响应信号;其中所述钻套构件的所述第一部分将所述询问信号从所述发射天线传送到所述井孔周围的所述地层,并将对所述询问信号的响应信号从所述井孔周围的所述地层传送到所述探测器上的所述接收天线。
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