[发明专利]自测试电子组件及测试系统有效
| 申请号： | 00813004.3 | 申请日： | 2000-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN1375085A | 公开（公告）日： | 2002-10-16 |
| 发明（设计）人： | J·M·巴顿;S·塔赫玛赛比;D·普莱特 | 申请（专利权）人： | 提维股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267;G06F11/22;G06F11/00;G06F11/273 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种自测试电子系统的自测试,如诊断或线上部件及电路的测试等,其中测试的依据为内部储存的测试程序。自测试结果存储在内部的装置中,其提供关于自测试电子组件的宝贵信息,此可在制程中、并以在正在进行的现场操作进行中进行为佳。测试系统以连接至一个或多个自测试电子组件为佳,并能提供每一自测试电子组件的回路电路,以使自测试电子组件可进一步测试部件、电路及安全编码与解码操作。较佳测试机架还提供对自测试单元组件的有效及一致监视及质量控制。在正在进行的现场操作中,自测试电子组件以能监视操作参数为佳,并在储存装置中信息时得继续定期执行自测试,并以将信息传至外部位置为佳。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电子 组件 系统 | ||
【主权项】：
1.一种自测试系统，所述自测试系统包含：包含多个互连部件的电子电路；连接至所述电子电路的一个或多个存储器储存装置，所述一个或多个存储器储存装置中至少一个包含测试所述电子电路的测试逻辑；以及位于所述系统内并连接至所述电子电路的处理器，所述处理器适合于从一个或多个所述存储器储存装置检索测试所述电子电路的所述测试逻辑、根据所述测试逻辑执行所述测试、和把所述测试结果储存储在至少一个所述存储器储存装置上。
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